x熒光膜厚測試儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數據，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業意見與技術扶持，值得您的信賴。

x熒光膜厚測試儀性能特點
+ 高效超薄窗X光管，指標達到*水平。 
+ 的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好。
+ SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。 
+ 產品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上。 
+ 低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好。 
+ 智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍。 
+ 自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性。
+ 高信噪比的電子線路單元。 
+ 針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣。 
+ 解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度。
+ 多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制。
+ 內置高清晰攝像頭。 
+ 液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然。