x熒光膜厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數據，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業意見與技術扶持，值得您的信賴。

x熒光膜厚儀技術指標：
★ 元素分析范圍：從AL到U
★ 一次性可同時分析多層鍍層
★ 分析厚度檢測出限zui高達0.01um
★ 同時可分析多達5層以上鍍層
★ 相互獨立的基體效應校正模型，厚度分析方法
★ 多次測量重復性zui高可達0.01um
★ *工作穩定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）
★ 溫度適應范圍：15℃~30℃
★ 輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩壓電源）