產品展示
【簡單介紹】
【詳細說明】
膜厚測試儀——博曼能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產力,高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量,從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術同行15年,在同測量領域風蚤,成為膜厚儀*,精準的數據,*的技術,嚴格的品質要求,可靠、可信、快速的服務,及一些專業意見與技術扶持,值得您的信賴。
膜厚測試儀——博曼x射線的原理是X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。可視光線的波長為0.000001 m (1μm)左右。
對某物質進行X射線照射時,可以觀測到主要以下3種X射線。
(1) 螢光X射線
(2) 散亂X射線
(3) 透過X射線
膜厚測試儀,分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小.來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
臺式的熒光X射線膜厚測試儀,是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。
相關產品
- 線路板膜厚測試儀—BA 100
- 線路板膜厚測試儀
- pcb板膜厚測試儀
- pcb板膜厚儀
- 膜厚測試儀—bowman博曼
- 膜厚測試儀 bowman博曼
- 金東霖_臺式膜厚儀
- BA 100_臺式膜厚儀
- BA 100_臺式膜厚測試儀
- 臺式膜厚測試儀
- 金東霖—膜厚測試儀
- BA 100—膜厚測試儀
- x熒光膜厚測試儀——博曼
- x熒光膜厚測試儀
- x熒光膜厚儀——深圳金東霖
- x熒光膜厚儀——金東霖科技
- x熒光膜厚儀——金東霖
- x熒光膜厚儀——博曼
- x熒光膜厚儀——bowman
- x熒光膜厚儀
- 半導體膜厚儀——博曼
- 半導體膜厚儀——bowman
- 半導體膜厚儀
- 電鍍X-RAY膜厚儀
- 半導體膜厚測試儀——BA 100
- 半導體膜厚測試儀——博曼
- 半導體膜厚測試儀——bowman
- 半導體膜厚測試儀——金東霖科技
- 半導體膜厚測試儀
- x射線膜厚測試儀
- x-ray膜厚測試儀
- x-ray膜厚儀
- 鍍金膜厚測試儀——bowman
- 鍍金膜厚測試儀
- 鍍層膜厚測試儀——美國
- 鍍層膜厚測試儀——bowman
- 鍍層膜厚測試儀——博曼
- 膜厚測試儀——bowman
- 膜厚測試儀——博曼
- 電鍍膜厚測試儀——美國