x熒光膜厚儀——金東霖科技能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應用。分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數據，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業(yè)意見與技術扶持，值得您的信賴。

x熒光膜厚儀——金東霖科技* 采用x射線的熒光原理方法，這是適合測量非鐵性鍍層在鋼材或非鐵性金屬底材上的厚度，甚至鎳層在鋼材上的厚度也可以測量。
* 對在鐵上鍍鋅層、電路板的銅箔及孔銅壁的厚度測理也十分理想。而且可以在同一時間分別測量兩層鍍層厚度。
* 用來測量鋼板上鍍鋅層及油漆的厚度，或是在鋁上油漆層的厚度，涂鍍可兩用，是一款非常不錯的儀器。
* zui顯著的功能是可以穿透綠油測下面的銅厚，這是其他品牌儀器無法做到的。
* 適合于使用在不需要全部測量數據存儲，評估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。配有不同的準直器以適應各種應用情況.