x熒光膜厚儀——bowman能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應用。分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數(shù)據(jù)，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業(yè)意見與技術扶持，值得您的信賴。

x熒光膜厚儀——bowman

* 技術指標型號：元素分析范圍從鋁（AL)到鈾（U）。
* 一次可同時分析zui多24個元素或五層以上鍍層。
* 元素分析檢出限可達2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。鍍層厚度zui薄可達0.005um，一般在20um內（不同材料有所不同）。
* 小孔準直器（zui小直徑0.1mm），測試光斑在0.2mm以內。
* 高精度移動平臺（定位精度小于0.005mm）。
* 任意多個可選擇的分析和識別模型。
* 尺寸：576 x 495x545 mm
* 重量：90 kg
* 標準配置開放式樣品腔。
* 精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
* 雙激光定位裝置。
* 鉛玻璃屏蔽罩。
* Si-Pin探測器。
* 信號檢測電子電路。
* 高低壓電源。
* X光管。
* 高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機。