x熒光膜厚儀——深圳金東霖
【簡單介紹】
【詳細說明】
x熒光膜厚儀——深圳金東霖能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產力,高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量,從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術同行15年,在同測量領域風蚤,成為膜厚儀*,精準的數據,*的技術,嚴格的品質要求,可靠、可信、快速的服務,及一些專業意見與技術扶持,值得您的信賴。
x熒光膜厚儀——深圳金東霖1.電動的X/Y 桌可以在測量門打開時變速移動X/Y 桌出來給操作員放置樣品及關閉測量門時移動X/Y 桌變速返回到測量位置。
2.高解像彩色攝影機配合強大的放大倍數功能使樣品的對位十分容易及在測量中也可以監視測量的位置。如型號配備了可編測量位置的儀器更有雷射對位裝置來更快速及準確對準樣品的位置測量。
3.開槽式的測量室設計,這可使大塊及平坦的樣品,比測量室還大的,例如:電路板,也可以測量。
4.在整體操作上,在簡易操作及強大功能的電腦WinFTM?軟件下,所有的測量數據的統計可以十分清楚地表達出來。
5.符合美國的出口規定,軟件是儀器的基本操作.此軟件可以同時間測量zui多至四層鍍層、或是進行多至5元素的合金分析、又或是zui多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。
6.在不使用標準片做校正的情況下,可以達至一個相當不錯的測量結果。
7.測量的準確度是可以用標準片校正來提高,程式是可以接受多至64個標準片來做校正,標準片校正也可以保證測量可以有追溯性。
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