產品展示
【簡單介紹】
【詳細說明】
x-ray膜厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產力,高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量,從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術同行15年,在同測量領域風蚤,成為膜厚儀*,精準的數據,*的技術,嚴格的品質要求,可靠、可信、快速的服務,及一些專業意見與技術扶持,值得您的信賴。
x-ray膜厚儀可測元素范圍:鋁(AL) –鈾(U)。
可測量厚度范圍:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μm。
自動測量功能:編程測量,自定測量修正,測量功能。
底材修正:已知樣品修正。
定性分析功能:光譜表示,光譜比較。
定量分析功能:合金成份,分析數據。
留言框 | |
感興趣的產品: | * |
留言內容: | |
您的姓名: | * |
您的單位: | |
聯系電話: | * |
微信: | |
常用郵箱: | |
詳細地址: | |
省份: | * |
驗證碼: | * = 請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7 |
是否接受其他廠商報價: | * |
相關產品
- 線路板膜厚測試儀—BA 100
- 線路板膜厚測試儀
- pcb板膜厚測試儀
- pcb板膜厚儀
- 膜厚測試儀—bowman博曼
- 膜厚測試儀 bowman博曼
- 金東霖_臺式膜厚儀
- BA 100_臺式膜厚儀
- BA 100_臺式膜厚測試儀
- 臺式膜厚測試儀
- 金東霖—膜厚測試儀
- BA 100—膜厚測試儀
- x熒光膜厚測試儀——博曼
- x熒光膜厚測試儀
- x熒光膜厚儀——深圳金東霖
- x熒光膜厚儀——金東霖科技
- x熒光膜厚儀——金東霖
- x熒光膜厚儀——博曼
- x熒光膜厚儀——bowman
- x熒光膜厚儀
- 半導體膜厚儀——博曼
- 半導體膜厚儀——bowman
- 半導體膜厚儀
- 電鍍X-RAY膜厚儀
- 半導體膜厚測試儀——BA 100
- 半導體膜厚測試儀——博曼
- 半導體膜厚測試儀——bowman
- 半導體膜厚測試儀——金東霖科技
- 半導體膜厚測試儀
- x射線膜厚測試儀
- x-ray膜厚測試儀
- x-ray膜厚儀
- 鍍金膜厚測試儀——bowman
- 鍍金膜厚測試儀
- 鍍層膜厚測試儀——美國
- 鍍層膜厚測試儀——bowman
- 鍍層膜厚測試儀——博曼
- 膜厚測試儀——bowman
- 膜厚測試儀——博曼
- 電鍍膜厚測試儀——美國