膜厚測試儀——金東霖能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數據，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業意見與技術扶持，值得您的信賴。

膜厚測試儀——金東霖軟體說明：
*  電腦操作系統 XP系統
*  測量膜厚元素范圍：元素周期表13—92號元素間的所有鍍層，
   使用FP法充許各元素鍍層次序的自由組合測量層層次，zui多可以測量四層（加基材zui多五層）
*  儀器支持二種鍍層厚度計算方法
  （1）、無標準片的FP法（Fundamental Parameter）全新數學計算方法。
     FP法名詞解釋：即在沒有標準塊的前提下，一樣能精確測量，此方式是通過儀器直接讀取鍍層元能量信息，通過各無素能量信號的強弱或設定的各無素比例參數，以一種數學的方式直接計算鍍的厚度。因為它不需要標準塊，因此它不受標準塊的限制，在沒有各種合金鍍層標準塊的情況下樣精確的測量各種二元、三元合金鍍層）到目前為止，bowman是世界上*可實現此種新型測試技術的膜厚測量品牌，此技術已使用了17年。
  （2）、支持傳統的帶標準塊的檢量線法，即通過鍍層標準塊建立測試程式檔案測量相對應的鍍層厚度。