高利通生產的GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀,由高利通自主設計生產的紫外光譜儀、光學氣體測量臺、紫外光源和算法等組成。該GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀具有可切換雙光路精密光學系統,的反射式準直光路設計可以有效避免透射式準直光路所固有的色差,使儀器具有分辨率更高,波長準確度高,重復性好和操作便捷等特點。本公司可根據客戶要求,提供定制服務。
●具有良好結構設計和可切換雙光路光學系統
●可完成對樣品的透過率、反射率的測量
●的長光程光路設計,使儀器分辨率更高
●強大的數據處理功能,使測試結果能得到充分的應用,用戶編輯更為簡單快捷
●波長準確度高,重復性好
●穩定性、可靠性更強,分析更加準確
●軟件控制儀器,功能完善,操作便捷和維護方便
●批量生產的工業級產品:優異的一致性、穩定性和可靠性
項目 | 指標 |
波長范圍 | 190-800nm |
光譜分辨率 | FWHM0.84nm @577nm@25μm狹縫 |
雜散光 | 0.06%@532nm/0.045%@785nm |
積分時間 | 8ms-15min |
電源 | 220V/0.7A |
USB數據線 | USB |
光譜儀配置 | 自動配置包括讀標定參數 |
數據輸出 | 灰度值隨波長或CCD像素變化 |
操作軟件 | SPEC-GLA600 (高利通) |
尺寸 | 450mmx300mmx207mm |
重量 | ~6.5Kg |
工作溫度 | 0-45°C |