微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對(duì)不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的*方法。采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡將激 發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域，以獲得的空間分辨率，進(jìn)行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡(jiǎn)單的樣品制備甚至不制備直接進(jìn)行分析。
測(cè)定鍍層樣品厚度及成分
采用X射線熒光技術(shù)的M4可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無(wú)標(biāo)樣基本參數(shù)法，可以同時(shí)計(jì)算鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)一步提高定量分析的準(zhǔn)確性
RoHS檢測(cè)
測(cè)量一個(gè)PCB樣品。u安蘇的面分布圖顯示了下列元素的分布情況：Br(綠色）、Cu（紅色）、Au（黃色）、Pb（白色）和Sn（粉紅色）
圖像的原始大小：250×75像素
測(cè)量時(shí)間：0.15s/像素
主要特點(diǎn)：
M4 TORNADO采用了全新的技術(shù)，為各種用戶提供了分析性能和非常方便的操控性。
采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡，照射光斑zui小，空間分辨率zui高。
渦輪增速X-Y-Z樣品臺(tái)，借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得高品質(zhì)的樣品影像，可在“飛行中”進(jìn)行元素分布分析。
高強(qiáng)度的X射線光管與多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡相結(jié)合，確保在非常小的照射區(qū)域內(nèi)獲得非常高的激發(fā)強(qiáng)度。采用濾光片和可以同時(shí)使用的配有不同靶材的雙光管，可以根據(jù)不同的分析要求，優(yōu)化激發(fā)光譜。
使用XFlash®探測(cè)器超高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個(gè)探測(cè)器可以進(jìn)一步提高測(cè)量速度。
采用無(wú)標(biāo)樣分析法精確定量分析塊狀樣品，精確分析多層膜樣品。
可抽真空的樣品室配有自動(dòng)門，大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個(gè)放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)觀察樣品（整體觀察和分析區(qū)域的細(xì)致觀察），便捷進(jìn)樣功能和自動(dòng)對(duì)焦功能可以進(jìn)行快速而精確的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品臺(tái)運(yùn)行程序可實(shí)現(xiàn)重復(fù)測(cè)量。
行業(yè)應(yīng)用：
- 地球科學(xué)（巖心、巖石、沉淀物、微體化石、年輪等多元素分布成像）
- 司法鑒定、法醫(yī)及痕量分析（對(duì)衣物上的彈孔進(jìn)行射擊殘留物GSR分析）
- 藝術(shù)與考古(對(duì)文物進(jìn)行顏料、色料的成分分析，修復(fù)文物)
- 質(zhì)量控制與故障分析儀（電子和電子部件元素分析，ROHS分析）
- 發(fā)動(dòng)機(jī)部件、電機(jī)/潤(rùn)滑油（識(shí)別電機(jī)/潤(rùn)滑油中的發(fā)動(dòng)機(jī)磨損產(chǎn)物）
- 生命科學(xué)（檢查樹木橫斷面/葉子/樹根年輪）
- 材料科學(xué)（鋼材腐蝕檢驗(yàn)）
- 環(huán)境科學(xué)(土壤重金屬、污水污泥重金屬分析、空氣和城市廢物)
- 過濾器上的薄膜（空氣濾膜）
