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液體介損及電阻率適用的測定方法
液體介損及電阻率適用的測定方法直流電阻率(體積) d.c resistivity(volume)介質損耗與測量頻率成反比，且隨介質粘度的變化而變化。試驗電壓值對測量損耗因婁影響不大，它通常只是受電橋的靈敏度所限制。但是，應考慮到高聽電場強度會引起電極的二次效應、介質發熱、放電等影響。
注：電阻率的單位是歐姆米(Ω.m)。
絕緣材料的相對電容率是一電容器的兩電極周圍和兩電極之間均充滿該絕緣材料時所具有電容量Ca與同樣電極結構在真空中的電容量Co之比。
tan δ——介質損耗因數
用本標準的方法測得的電阻率通常并不是真正的電阻率。當施加直流電壓后，由于電荷遷移，將使液體的起始特性發生隨時間的變化。真正的電阻率只有在低電壓下且在剛施加電壓后才可得到。本標準使用比較高的電壓且經較長時間，因此，其結果通常是與GB/T21215-2007所得到的不同。
用該電極在空氣中的電容Ca代替Co，對于測量相對電容率具有足夠的精確度。
GB/T1409-2006 固體絕緣材料在工頻、音頻、高頻、(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法(IEC60250：1969，MOD)
溫度本標準中液體的電阻率測量結果與試驗條件有關，主要有：電阻率對溫度的變化特別敏感，是按1/K指數變化。因此需要在足夠精確的溫度條件下進行測量，注：實際應用中，tanδ測得值低于0.005時，tanδ和功率因數(PF)基本上相同。可用一個簡單的換算公式將兩者進行換算。功率因數是損耗角的正弦，功率因數和介質損耗因數之間的關系可表達為下式：
(相對)電容率 permittivity(relative)電阻率
GB/T1410-2006 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法(IEC60093；1980，IDT)
對于非碳氫化合物絕緣液體，則要求采用其他清洗方法。
電氣絕緣液體的電容率和介質損耗因數(tanδ)在相當大程度上取決于試驗條件，特別是溫度和施加電壓的頻率，電容率和介質損耗因數都是介質極化和材料電導的度量。
電容率、tanδ和電阻率，無論是單一還是全部，都是絕緣液體的固有質量和污染程度的重要指標。這些參數都可用于解釋所要求的介電特性發生偏離的原因，也可解釋其對于使用該液體的設備所產生的潛在影響。
當電容器的介質僅由一種絕緣材料組成時，損耗角是指外施電壓與由此引起的電流之間的相位差偏離π/2的弧度。
本標準規定了在試驗濕度下液體絕緣材料的介質損耗因數、相對電容率和直流電阻率的測量方法。
絕緣材料的介質損耗因數(tanδ)是損耗角的正切。
電容率和介質損耗因數(tanδ)
在工頻和足夠高的溫度下，與本方法中推薦的一樣，損耗可僅歸因于液體的電導，即歸因于液體中自由載流子的存在，因此，測量高純凈絕緣液體的介電特性，對判別電離雜質的存在很有價值。
較大的雜質所引起的電容率的變化相對較小，而其介質損耗則強烈地受極小量的可電離溶解雜質或膠體微粒的影響，某些液體有較大的極性，所以對雜質的敏感性較之碳氫化合物液體要強得多。極性還導致它有較高的溶解和電離的能力，因此在操作時要比對碳氫化合物液體更應小心。
本標準主要是對未使用過的液體做參考性試驗，但也適用于運行中的變壓器、電纜和其他電工設備中的液體。然而，本標準只適用于單相液體，當做例行測量時可以采用簡化方法和附錄C所述的方法。
電化時間IEC60475 液體電介質取樣方法當施加直流電壓時，由于電荷向兩電極遷移，流經試樣的電流將逐漸減少到一極限值，一般規定電化時間為1min，不同的電化時間可導致試驗結果明顯不同【某些高粘度的液體可能需要相當長的電化時間。
式中：GB/T21216-2007 絕緣液體 測量電導和電容確定介質損耗因數的試驗方法(IEC61620:1998，IDT)絕緣材料的體積電阻率是在材料內的直流電場強度與穩態電流密度的比值。 術語和定義PF——功率因數
給定試樣的電阻率可受施加電場強度的影響，為了獲得可比的結果，應在近似相等的電壓梯度下進行測量，并應在相同極性下進行，此時應注明其梯度值和極性。
概述電場強度的值
通常認為初始值能較好地代表液體的實際狀態，所以更希望能在一達到溫度平衡時就測量介質損耗因數，介質損耗因數對溫度的變化很敏感，通常是隨溫度的增加成指數式的增大，因此需要在足夠精確的溫度條件下進行測量，下面所述的方法使用試樣溫度在很短的時間內達到與試驗池平衡。
下列術語和定義適用于本標準
介質損耗因數(tanδ)dielectric dissipation factor(tanδ)
關鍵詞：電纜
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