產品展示
AFM探針VEECO 原子力顯微鏡探針 AFM探針
【簡單介紹】
【詳細說明】
Veeco制造的各種探針符合嚴格的質量要求,為保證質量,我們*用戶購買10個包裝的探針,減少大包裝和頻繁打開造成的不必要曝光和污染。
1、應用:接觸模式和液體成像用
氮化硅探針用于生物成像、力的研究和實驗。新的高分辨率SNL探針系列可用于分子和納米級成像
2、應用:通用輕拍模式
包括工業用TESP的硅探針產品線是空氣拍打模式中微懸臂的基準產品
3、應用:納米級材料繪圖用探針
新的Veeco HMX探針系列,應用于革命性的Harmonix 納米級材料繪圖模式
4、應用:特制探針
Veeco的特質探針有多項功能,如溫度特征、繪圖、NSOM、STM、納米切割、大長寬比檢測
5、應用:電子/磁性特征研究
Veeco為電子/磁性特征研究提供全套探針和附件
6、特征:SPM附件
Veeco為您的儀器和應用提供SPM全套附件
DNP-10
氮化硅探針
用于接觸式或輕敲模式或力的測量。
非套裝,適用于BioScope AFM 及 Dimension 系列SPM。
每個基片有4個懸臂,彈性系數為0.06 - 0.58 N/m,共振頻率為18-65 KHz
包裝數量:10根/盒
針尖參數
幾何:各向異性
針尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角(FA): 15 ± 2.5°
背面角(BA): 25 ± 2.5°
側面角 (SA): 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 20nm
針尖曲率半徑(Max): 60nm
針尖縮進 (TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7µm
RTESP
硅探針
彈性指數40N/m, 共振頻率300kHz, 旋轉針尖, 無涂層
包裝數量:10根/盒
針尖參數
幾何:各向異性
針尖高度 (h): 15 - 20µm
正面角 (FA): 15 ± 2°
背面角 (BA): 25 ± 2°
側面角 (SA): 17.5 ± 2°
針尖曲率半徑(Nom): 8nm
針尖曲率半徑 (Max): 12nm
針尖縮進 (TSB)(Nom): 15µm
針尖縮進范圍(TSB)(RNG): 5 - 25µm
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