核心優(yōu)勢
長久以來,X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜(XAFS)只能在各個同步輻射光源上測試。由于光源機時有限,無法滿足眾多科研工作者的測試需求。而近些年,XAFS數(shù)據(jù)已成為了期刊的“標(biāo)配",致使越來越多課題組需要XAFS測試。秉持著讓XAFS走進(jìn)每個實驗室的理念,高能物理研究所和中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)聯(lián)合推出了全新的X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀(RapidXAFS)。
RapidXAFS HEX射線吸收譜儀產(chǎn)品優(yōu)勢:
多功能: | 提供科研級高質(zhì)量XAFS圖譜 |
高性能: | 1小時內(nèi)完成1%含量樣品測試 |
能量范圍: | 4.5-15 keV,可擴展至20 keV |
高光通量: | >2,000,000 photons/sec@7~9 KeV |
測試元素: | 在實現(xiàn)3d,5d,稀土元素過渡金屬 XAFS 測試 |
簡單易用: | 只需半天培訓(xùn)即可上機操作 |
自主可控: | 90%部件自主可控,無政策風(fēng)險 |
低維護(hù)成本: | 無需專人維護(hù)、操作、管理等 |
RapidXAFS具有如下特點:
光通量產(chǎn)品
光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV,采譜效率數(shù)倍于其他產(chǎn)品;獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質(zhì)量
優(yōu)異的穩(wěn)定性
光源單色光強度穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%,重復(fù)采集能量漂移<50 mev="">
1%探測極限
高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和較好的光源穩(wěn)定性確保所測元素含量>1%時依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數(shù)據(jù)
儀器原理
X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(X-ray absorption fine structure,XAFS),是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具,廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域。
RapidXAFS HEX射線吸收譜儀主要有以下優(yōu)點:
1.不依賴于長程有序結(jié)構(gòu),可用于非晶態(tài)材料的研究;
2.不受其它元素干擾,可對同一材料中不同元素分別研究;
3.對樣品無破壞,在大氣環(huán)境下測試,可進(jìn)行原位測試;
4.不受樣品狀態(tài)影響,可測量固體(晶體、粉末),液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等;
5.能獲得配位原子種類、配位數(shù)及原子間距等結(jié)構(gòu)參數(shù),原子間距精確度可達(dá)0.01A。
實驗室單色儀XES測試幾何結(jié)構(gòu) | 實驗室單色儀XAFS測試幾何結(jié)構(gòu) |
Mn數(shù)據(jù),Mn K-edge XAFS數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)與同步輻射光源一致
Fe樣品Kβ發(fā)射譜數(shù)據(jù):core to core XES 和 valence to core XES
XAFS譜主要包括兩部分:X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)(XANES)和擴展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(EXAFS)。EXAFS的能量范圍大概在吸收邊后50 eV到1000 eV,來源于X射線激發(fā)出來的內(nèi)層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應(yīng)的結(jié)果。XANES包含了吸收邊前約10 eV至吸收邊后約50 eV的范圍,其主要來源于X射線激發(fā)出的內(nèi)殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應(yīng)。
測試數(shù)據(jù)
Foil EXAFS數(shù)據(jù)
低濃度實際樣品數(shù)據(jù)(0.5%)
可測元素:綠色部分可測K邊,黃色部分可測L邊
應(yīng)用領(lǐng)域
應(yīng)用:
工業(yè)催化
儲能材料
納米材料
環(huán)境毒理
也質(zhì)分析
重元素分析