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天津東方科捷科技有限公司
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ISS 快速熒光壽命成像系統FLIM/FCS
基于激光共焦掃描顯微系統--熒光成像、熒光強度掃描成像、熒光壽命掃描成像、熒光光譜掃描成像
新一代快速熒光壽命成像FastFLIM系統，提供單分子級的靈敏度，檢測波長標準配置范圍：350-1050nm；壽命范圍100ps-100ms；用于化學、納米、能源、生物等學科方向，單分子動態、活細胞、微區成像及形貌、能級結構和能量傳遞特征的機理研究，測試速度高達5fps（512×512），1×1 到 4096×4096成像，采用可視化Phasor plots熒光壽命直讀半圓規，批量熒光壽命成像數據處理進入直讀時代；振鏡掃描適于所有時間尺度的壽命成像。活細胞工作站、變溫測試可選用；
主要功能描述：
激光共焦熒光強度成像LCM；
熒光壽命成像FLIM，磷光壽命成像PLIM；
上轉換熒光（壽命）成像，稀土發光（壽命）成像，延遲熒光（壽命）成像；
熒光波動成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS），FLIM-FRET成像；
單量子點發光（壽命）成像，單分子及單分子熒光共振轉移成像，包括交替激發PIE成像；
穩態及瞬態偏振成像；
微區熒光光譜采集及光譜成像；
反聚束測試；
Prof. Joseph R. Lakowicz 實驗室選擇的FLIM系統
數字頻域技術DFD-FLIM （FastFLIM）和時域技術TD-FLIM （TCSPC）成像技術；
實時直讀式獲得熒光壽命數值及變化趨勢，FRET效率分布；
選擇300-1600nm波長范圍檢測器，2-4通道檢測器，用于成像，FLIM-FRET；
可以升級無波長干擾AFM，實現同區域形貌和FLIM同步測試；
紫外-可見-紅外激發波長，單波長或超連續激光器；266nm-1300nm激光器可選；PIE功能可選；白光激光器可選用；
單光子或雙光子的激光器；
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