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組合熒光系統采用模塊化設計，既可實現穩態、瞬態測量，又能實現UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統多種部件可供選擇（光源、探測器、樣品架、變溫模塊等）...
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目：?絕*反射率測量?多層膜解析?光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）
OP-AI系列氣浮隔振光學平臺? 固有頻率：＜1.2～2Hz? 重復定位精度：±0.10mm? 臺面材料：SUS430高導磁不銹鋼? 臺面厚度：100...
半導體參數分析儀型號有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
網絡分析儀主要特性和功能：· 具有緊湊型頻率擴展器的單次掃描解決方案· 可以作為單個產品解決方案一次性購買· 對器件施加精確的調平功率，進行功率掃描· 提供各種...
組合熒光系統采用模塊化設計，既可實現穩態、瞬態測量，又能實現UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統多種部件可供選擇（光源、探測器、樣品架、變溫模塊等）...
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目：?絕*反射率測量?多層膜解析?光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）
OP-AI系列氣浮隔振光學平臺? 固有頻率：＜1.2～2Hz? 重復定位精度：±0.10mm? 臺面材料：SUS430高導磁不銹鋼? 臺面厚度：100...
半導體參數分析儀型號有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
網絡分析儀主要特性和功能：· 具有緊湊型頻率擴展器的單次掃描解決方案· 可以作為單個產品解決方案一次性購買· 對器件施加精確的調平功率，進行功率掃描· 提供各種...
組合熒光系統采用模塊化設計，既可實現穩態、瞬態測量，又能實現UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統多種部件可供選擇（光源、探測器、樣品架、變溫模塊等）...
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目：?絕*反射率測量?多層膜解析?光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）
OP-AI系列氣浮隔振光學平臺? 固有頻率：＜1.2～2Hz? 重復定位精度：±0.10mm? 臺面材料：SUS430高導磁不銹鋼? 臺面厚度：100...
半導體參數分析儀型號有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
網絡分析儀主要特性和功能：· 具有緊湊型頻率擴展器的單次掃描解決方案· 可以作為單個產品解決方案一次性購買· 對器件施加精確的調平功率，進行功率掃描· 提供各種...
組合熒光系統采用模塊化設計，既可實現穩態、瞬態測量，又能實現UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統多種部件可供選擇（光源、探測器、樣品架、變溫模塊等）...
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目：?絕*反射率測量?多層膜解析?光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）
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半導體參數分析儀型號有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
網絡分析儀主要特性和功能：· 具有緊湊型頻率擴展器的單次掃描解決方案· 可以作為單個產品解決方案一次性購買· 對器件施加精確的調平功率，進行功率掃描· 提供各種...
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