neaSNOM近場光學(xué)顯微鏡技術(shù)特點和優(yōu)勢:
? neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產(chǎn)品
? 保護(hù)的散射式近場光學(xué)測量技術(shù)
—的10 nm空間分辨率
? 的高階解調(diào)背景壓縮技術(shù)
—在獲得10nm空間分辨率的同時保持的信噪比
? 保護(hù)的干涉式近場信號探測單元
? 的贗外差干涉式探測技術(shù)
—能夠獲得對近場信號強度和相位的同步成像
? 保護(hù)的反射式光學(xué)系統(tǒng)
—用于寬波長范圍的光源:可見、紅外以至太赫茲
? 高穩(wěn)定性的AFM系統(tǒng),
—同時優(yōu)化了納米尺度下光學(xué)測量
? 雙光束設(shè)計
—的光學(xué)接入角:水平方向180°,垂直方向60°
? 操作和樣品準(zhǔn)備簡單
—僅需要常規(guī)的AFM樣品準(zhǔn)備過程