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KRTS MX80M金相顯微鏡

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更新時間：2022-10-02 09:21:42瀏覽次數(shù)：135次

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卡爾特斯光學(xué)儀器（蘇州）有限公司

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產(chǎn)品簡介

KRTSMX80M系列金相顯微鏡多檔分光比觀察頭設(shè)計全新系列觀察筒，采用寬光束成像系統(tǒng)設(shè)計，支持26.5mm超寬視野觀察，帶給您全新的大視野體驗

詳細(xì)介紹

KRTS MX80M系列金相顯微鏡多檔分光比觀察頭設(shè)計全新系列觀察筒，采用寬光束成像系統(tǒng)設(shè)計，支持26.5mm超寬視野觀察，帶給您全新的大視野體驗。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒，保證樣品的移動方向與您通過目鏡觀察到的方向一致，使操作更加得心應(yīng)手。三檔式鉸鏈三目觀察筒，在成像光線99%用于雙目觀察或三目攝影的基礎(chǔ)上，增加一檔20%用于雙目觀察，80%用于顯微攝影，方便用戶同時對鏡下圖像與視頻圖像進(jìn)行對比觀察；
偏振系統(tǒng)偏振系統(tǒng)包括起偏器和檢偏器，可做偏光檢測，在半導(dǎo)體和PCB檢測中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360度旋轉(zhuǎn)式檢偏器。360°旋轉(zhuǎn)式檢偏器可在不移動標(biāo)本的情況下，方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)。可在偏振系統(tǒng)的基礎(chǔ)上加載微分干涉器，建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)。
諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)U-DICR微分干涉組件，可以將明場觀察下無法檢測的細(xì)微高低差，轉(zhuǎn)化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來，如LCD導(dǎo)電粒子，精密磁盤表面劃痕等。
中性密度濾色鏡連動明暗場觀察設(shè)計照明器前端的撥桿可使明暗場觀察切換更加方便，并帶有中性密度濾色鏡（ND50）聯(lián)動功能。由于暗場觀察時通常需要將光源開得比明場觀察更亮，此功能設(shè)計可以避免用戶在由暗場切換至明場時，眼睛不會受到強光的刺激，提高使用的舒適性。
物鏡轉(zhuǎn)換器，多孔可選多孔物鏡轉(zhuǎn)換器可以對同一個標(biāo)本的觀測點進(jìn)行連續(xù)的更加合理的低、中、高放大倍率觀察。全新的物鏡轉(zhuǎn)換器將光軸與轉(zhuǎn)動軸之間的夾角降低到15°，提高了對中精度和齊焦精度，且外觀更加緊湊。
光學(xué)系統(tǒng)
同步設(shè)計了全套明暗場兩用物鏡，暗場照明亮度比傳統(tǒng)暗場物鏡提高 2 倍以上。采用全新設(shè)計的長工作距物鏡、半復(fù)消色差技術(shù)，多層寬帶鍍膜技術(shù)，采用長壽命LED光源，配合多種高度功能化的附件，50X 物鏡的有效工作距離 7.9mm，100X 物鏡的有效工作距離也達(dá)到了 2.1mm，更有20X 超長工作距金相物鏡，大幅拓展了 MX 機(jī)型的應(yīng)用領(lǐng)域。，能滿足各種檢驗需要，可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察，專為LCD行業(yè) / TFT玻璃 / COG導(dǎo)電粒子壓痕、粒子爆破檢查。

移動平臺
8英寸三層機(jī)械移動平臺，低手位 X、Y 方向同軸調(diào)節(jié) ；平臺面積 525×330mm，行程210×210mm，玻璃載物臺板；帶離合器手柄，可用于全行程范圍內(nèi)快速移動；玻璃載物臺板（透、反射用）。

反射照明器
單顆大功率5W白色LED照明，帶斜照明機(jī)構(gòu)。切換至斜照明時，可以使物體表面不同材質(zhì)部分呈現(xiàn)立體圖案，增加觀察的對比度與視覺效果。

豐富的觀察方式，滿足您的檢測需求

明場觀察：遠(yuǎn)心柯拉反射照明系統(tǒng)，配以全新設(shè)計的無限遠(yuǎn)長工作距平場消色差金相物鏡，從低倍到高倍，都能得到清晰、平坦、明亮的高畫質(zhì)顯微圖像。

暗場觀察：將暗場照明拉桿拉到位置，即可使用暗場功能，可以觀察物體表面的各種劃痕、雜質(zhì)點及其他細(xì)微缺陷。內(nèi)置衰減片，減少明暗場切換時光線劇烈變換對眼睛的刺激。

簡易偏光觀察：將起偏鏡及檢偏鏡插板插入照明器的位置，即可進(jìn)行簡易偏光觀察。檢偏鏡可分為固定式和 360°旋轉(zhuǎn)式兩種。

DIC 微分干涉觀察：在正交偏光的基礎(chǔ)上 , 插入 DIC 棱鏡，即可進(jìn)行 DIC 微分干涉觀察。使用 DIC 技術(shù) , 可以使樣品表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，提高圖像的對比度。可匹配帶 DIC 功能的物鏡，使整個視場的干涉色一致，微分干涉效果非常出色 , 高倍物鏡 DIC 效果也較好。