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卡爾特斯光學(xué)儀器(蘇州)有限公司
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更新時間:2022-09-29 08:32:59瀏覽次數(shù):289次
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KRTSMX60M金相顯微鏡應(yīng)用于工業(yè)檢測及金相分析領(lǐng)域,各操作機構(gòu)根據(jù)人機工程學(xué)設(shè)計,大限度減輕使用疲勞
KRTS MX60M金相顯微鏡應(yīng)用于工業(yè)檢測及金相分析領(lǐng)域,各操作機構(gòu)根據(jù)人機工程學(xué)設(shè)計,大限度減輕使用疲勞。模塊化的部件設(shè)計,可對系統(tǒng)功能進行自由組合。大行程移動工作平臺,長工作距半復(fù)消色差物鏡,圖像銳利清晰,集成了明場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能,可根據(jù)實際應(yīng)用,進行功能選擇。
無限遠鉸鏈三通觀察頭
正像鉸鏈三目觀察頭,所成像的方位與物體實際方位一致,物體移動的方向跟像面移動的方向相同,便于使用者觀察與操作。
光學(xué)系統(tǒng)
同步設(shè)計了全套明暗場兩用物鏡,暗場照明亮度比傳統(tǒng)暗場物鏡提高 2 倍以上。采用長工作距物鏡、半復(fù)消色差技術(shù),多層寬帶鍍膜技術(shù),采用LED光源,配合多種高度功能化的附件,50X 物鏡的有效工作距離 7.9mm,100X 物鏡的有效工作距離也達到了 2.1mm,更有20X 超長工作距金相物鏡,大幅拓展了 MX 機型的應(yīng)用領(lǐng)域。,能滿足各種檢驗需要,可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察,專為LCD行業(yè) / TFT玻璃 / COG導(dǎo)電粒子壓痕、粒子爆破檢查。
移動平臺
6 英寸三層機械移動平臺,低手位 X、Y 方向同軸調(diào)節(jié) ;平臺面積 445mm×240mm,反射照明移動范圍 :158mm×158mm ;透射照明移動范圍 :100×100mm ;帶離合器手柄,可用于全行程范圍內(nèi)快速移動 ;玻璃載物臺板(透、反射用)。
反射照明器
單顆大功率5W白色LED照明,帶斜照明機構(gòu)。切換至斜照明時,可以使物體表面不同材質(zhì)部分呈現(xiàn)立體圖案,增加觀察的對比度與視覺效果。
豐富的觀察方式,滿足您的檢測需求
明場觀察:遠心柯拉反射照明系統(tǒng),配以無限遠長工作距平場消色差金相物鏡,從低倍到高倍,都能得到清晰、平坦、明亮的高畫質(zhì)顯微圖像。
暗場觀察:將暗場照明拉桿拉到位置,即可使用暗場功能,可以觀察物體表面的各種劃痕、雜質(zhì)點及其他細微缺陷。內(nèi)置衰減片,減少明暗場切換時光線劇烈變換對眼睛的刺激。
簡易偏光觀察:將起偏鏡及檢偏鏡插板插入照明器的位置,即可進行簡易偏光觀察。檢偏鏡可分為固定式和 360°旋轉(zhuǎn)式兩種。
DIC 微分干涉觀察:在正交偏光的基礎(chǔ)上 , 插入 DIC 棱鏡,即可進行 DIC 微分干涉觀察。使用 DIC 技術(shù) , 可以使樣品表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果,提高圖像的對比度。可匹配帶 DIC 功能的物鏡,使整個視場的干涉色一致,微分干涉效果非常出色 , 高倍物鏡 DIC 效果也較好。
U-DICR 微分干涉組件,可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差,轉(zhuǎn)化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來,如LCD 導(dǎo)電粒子,精密磁盤表面劃痕等。
攝影 / 攝像附件
在三目觀察筒上,可以配接攝影攝像裝置,將雙目觀察到的圖像輸出至監(jiān)視器或計算機,進行圖像分析、處理、保存或傳送。使用專用的 C 接口與中繼鏡,可以和數(shù)碼相機聯(lián)接,快速進行拍照,并獲取圖像。
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