PLD-MPCS2.0電子半導(dǎo)體清潔度分析系統(tǒng) 計(jì)數(shù)器
【簡單介紹】
【詳細(xì)說明】
電子半導(dǎo)體清潔度分析系統(tǒng) 計(jì)數(shù)器-優(yōu)勢:
測試軟件具有審計(jì)追蹤、權(quán)限管控、電子記錄、測試標(biāo)準(zhǔn)、計(jì)量驗(yàn)證、報(bào)告模板、圖像存儲(chǔ)、顆粒追蹤、報(bào)告輸出、清潔度分析等功能;
全面自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)選擇、顆粒尺寸設(shè)定、顆粒計(jì)數(shù),或按用戶設(shè)定范圍計(jì)數(shù),自動(dòng)顯示分析結(jié)果,并按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定產(chǎn)品等級(jí);
將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物;
軟件控制分析過程,手動(dòng)對(duì)焦,手動(dòng)光強(qiáng)(顆粒清潔度測試必須人為干預(yù)進(jìn)行),自動(dòng)掃描,自動(dòng)攝入,自動(dòng)分析;
數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描;全自動(dòng)膜片掃描系統(tǒng),無縫拼接,數(shù)字化顯微鏡分析系統(tǒng);
R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng);
顆粒圖像分析軟件及平臺(tái)對(duì)圖像進(jìn)行處理與分析;
引入3D遙感三維調(diào)控技術(shù),快速定位,快速聚焦,體驗(yàn)極速無卡頓測試。
顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果;
直觀、形象、準(zhǔn)確、測試范圍寬以及自動(dòng)識(shí)別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn);
避免激光法的產(chǎn)品缺陷,擴(kuò)展檢測范圍;
現(xiàn)實(shí)NAS、ISO等標(biāo)準(zhǔn)方法的認(rèn)可;
提供行業(yè)*的“OIL17服務(wù)星"簽約式服務(wù);
電子半導(dǎo)體清潔度分析系統(tǒng) 計(jì)數(shù)器-應(yīng)用:
航空、航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機(jī)械、汽車制造、制冷、電子、半導(dǎo)體、工程機(jī)械、液壓系統(tǒng)等領(lǐng)域;
對(duì)各類固體粉末、各類液體中的固體顆粒(非連續(xù)相測試)。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
0.1~3000μm的超寬范圍、超高分辨率。
可根據(jù)客戶要求,植入相應(yīng)“圖像法顆粒度"測試和評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)。
技術(shù)參數(shù):
產(chǎn)品型號(hào):PLD-MPCS2.0
訂制要求:各類液體檢測要求;
測試范圍: 1μm-500μm
放大倍數(shù):40X~l000X倍
zui大分辨:0.1μm
顯微鏡誤差:0.02(不包含樣品制備因素造成的誤差)
重復(fù)性誤差:< 5%(不包含樣品制備因素造成的誤差)
數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD):500萬~1800萬像素
分析項(xiàng)目:粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等
自動(dòng)分割速度:< 1秒
分割成功率:> 93%
軟件運(yùn)行環(huán)境:Windows 10
接口方式:RS232或USB方式
精 確 度:<±3% 典型值;
重合精度:10000粒/mL(5%重合誤差);
分 辨 率:>95%
售后服務(wù):普洛帝中國服務(wù)中心/普研檢測。
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