ABB測厚儀備件PFSA2973BSE085993R1測厚儀測量技術的未來發展方向隨著非接觸、率測量機的大量出現，專家預計，21世紀測厚儀測量技術的發展方向大致如下：1、測量精度由微米級向納米級發展，測量分辨力進一步提高；2、由點測量向面測量過渡(即由長度的精密測量擴展至形狀的精密測量)，提高整體測量精度；3、隨著圖像處理等新技術的應用，遙感技術在精密測量工程中將得到推廣和普及；4