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先鋒科技（香港）股份有限公司

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2022-11-01 08:39:03321
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具體成交價以合同協議為準
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  • 廠商性質:其他
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KaleoMultiWave光學元件面型測量儀是一臺多波長工作的光學元件面形測試系統，用于替代昂貴、低效、操作復雜的干涉儀，測量光學元件的表面面形、透過波差等參數。

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