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先鋒科技（香港）股份有限公司

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2022-10-25 08:39:54181
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光譜式測量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術提供了Z高精度的亮度、色度測量。現有的光譜式測量的主要不足是需要很長的測試時間。PhotoResearch的A-TAKT系列光譜式輻射度計彌補了這一不足，實現了光譜式精度的

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