日本Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機、HANWA ESD測試機
全自動芯片ESD測試設備產品概要：
HANWA新一代G5000系列ESD 全自動靜電破壞檢測機已上市，搭載多Pin腳無繼電器的GND模組（Z高支持MAX2048pin），全不受寄生電容的影響，實現高精度檢測。此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備 （滿足JEITA / ESDA / JEDEC規格）可用于閂鎖測試，并適用脈沖電 流法·電源過電壓·ESD脈沖印加法。汽車電子AEC-Q100標準，車規級集成電路可靠性靜電HDM/CDM測試。
技術優勢：
1、適應以下國際標準波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、該系統特別的短路放電電路可通過其原始機械設計實現。
3、短路Z大限度地減少電感和電容對數據的影響。
4、使用單個電路可確保每個器件引腳的數據穩定性。
全自動芯片ESD測試設備主要應用：
芯片靜電破壞自動測定裝置。
