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南京芯測軟件技術(shù)有限公司，專業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺。公司致力為客戶提供半導(dǎo)體測試設(shè)備國產(chǎn)化改造，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺服務(wù)。公司的目標(biāo)是成為國內(nèi)晶圓級在片測試，器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進供應(yīng)商，以滿足國內(nèi)用戶需求，開發(fā)半導(dǎo)體測試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。
南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括：手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設(shè)備等。我們服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量，大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應(yīng)用行業(yè)
光感測器量子效率測量儀介紹
隨著5G與移動設(shè)備的興起與普及，越來越多新型光傳感器被應(yīng)用于我們的日常生活中，為了能更好的應(yīng)用在行動裝置上，這些光傳感器的組件感光面積越做越小。但這些應(yīng)用卻對光傳感器的光感測性能要求卻越來越高，在感光面積微縮的過程中，也帶來量子效率精準測量的挑戰(zhàn)；例如，傳統(tǒng)聚光型小光斑在不同波長下，色散差造成焦點位移可到mm等級。難以將所有的光子都聚焦到微米等級的感光面積中。因此，難以準確測得全光譜量子效率曲線。
APD-QE 光感測器量子效率測量儀采用光束空間均勻化技術(shù)，利用ASTM標(biāo)準的”Irradiance Mode”測試方式，與各種探針臺形成完整的微米級光傳感器全光譜量子效率測試解決方案。APD-QE已被應(yīng)用于多種光傳感器的測試中，例如在iPhone光達與其多種光傳感器、Apple Watch血氧光傳感器、TFT影像傳感器、有源主動像素傳感器(APS)、高靈敏度間接轉(zhuǎn)換X射線傳感器等。
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