（顯示價格供參考，實際價格以報價為準）

熱流儀搭配Keysight進行功率器件高低溫測試

高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫熱臺搭配是德B1500系列功率分析儀進行功率器件高低溫測試。

設計人員現在可以使用TCU800P高低溫冷熱臺或TS系列高低溫沖擊氣流儀在-100℃ - +350℃寬溫度范圍內對 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件自動化熱測試解決方案。兩者都直接可與Keysight B1500系列集成，以限度地減少在將較長電纜布線到外部溫度測試設備時引入的測量問題。

TCU800P高低溫冷熱臺(RT至+250°C)和高低溫沖擊氣流儀(-70至+225°C)滿足高熱和極冷測試應用的需求，實現對IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測試。

TS560高低溫沖擊氣流儀

ThermoTST TS560是—臺精密的高低溫沖擊氣流儀，具有更廣泛的溫度范圍-70℃到＋225℃，提供了溫度轉換測試能 力。溫度轉換從-50℃到+ 125℃之間轉換約10秒 ；經長期的多工況驗證，滿足各類生產環境和工程環境的要求。

熱流儀搭配Keysight進行功率器件高低溫測試

TCU800P是—種突破性的產品， 每個系統包含可定制化的熱板（臺）和—個獨立的溫度控制單元；在RT至+250℃范圍內提供穩定且高精度的溫度環境。可用于Keysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配測試的溫度控制平板，實現對IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測試。

TCU800P的熱板設計可安裝于Keysight B1505A 和B1506A功率分析儀測試腔內，減少因為布線引起的測量問題；通過優化熱臺結構設計，降低了傳統熱臺漏電流產生的電噪聲對測試結果影響。

TCU800P是—種突破性的產品， 每個系統包含可定制化的熱板（臺）和—個獨立的溫度控制單元；在RT至+250℃范圍內提供穩定且高精度的溫度環境。可用于Keysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配測試的溫度控制平板，實現對IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測試。

TCU800P的熱板設計可安裝于Keysight B1505A 和B1506A功率分析儀測試腔內，減少因為布線引起的測量問題；通過優化熱臺結構設計，降低了傳統熱臺漏電流產生的電噪聲對測試結果影響。

TCU800P是—種突破性的產品， 每個系統包含可定制化的熱板（臺）和—個獨立的溫度控制單元；在RT至+250℃范圍內提供穩定且高精度的溫度環境。可用于Keysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配測試的溫度控制平板，實現對IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測試。

TCU800P的熱板設計可安裝于Keysight B1505A 和B1506A功率分析儀測試腔內，減少因為布線引起的測量問題；通過優化熱臺結構設計，降低了傳統熱臺漏電流產生的電噪聲對測試結果影響。