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◆ AnalysisStation
- JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。在分析數(shù)據(jù)過程中,自動(dòng)采集電鏡主機(jī)的倍率、加速電壓等參數(shù),進(jìn)行數(shù)據(jù)管理。
- 硅漂移檢測器(以下簡稱SDD)的檢測面積有30mm2、60mm2和100mm2三種。檢測面積越大,檢測靈敏度越高。JEM-ARM200F(HRP)配合使用DRY SD100GV檢測器(檢測面積為100mm2),可同時(shí)實(shí)現(xiàn)大受光面積和高分辨率, 可以清楚地識(shí)別B、C、N、O等輕元素。
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◆ 快速元素面分析
- DRYSD100GV檢測器的靈敏度,測試Au催化劑顆粒只需一分鐘。
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- 上圖: 樣品 負(fù)載在Ti氧化物上的Au催化劑顆粒
裝置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV檢測器
測試時(shí)間: 大約1分鐘
束流電流: 1nA
像素?cái)?shù): 256x256像素 -
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◆ 實(shí)現(xiàn)原子分辨率的面分析
- Sr和Ti的原子列被清楚地分離開來。
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- 上圖: 樣品 SrTiO3<100>
裝置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV檢測器
測試時(shí)間: 大約10分鐘
束流電流: 1nA
像素?cái)?shù): 128x128像素 100> -
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◆ play Back(回放)功能
- 用JEOL制造的EDS采集的元素面分布圖,不僅保存了每一幀中各個(gè)像素點(diǎn)的譜圖,還對每一幀中電子束形成的圖像進(jìn)行了存儲(chǔ)。利用play back功能,可以進(jìn)行多角度的分析如觀測譜圖等隨時(shí)間的變化等。測試后數(shù)據(jù)能夠回放,可以觀察到樣品按時(shí)間順序發(fā)生的變化,這是至今為止無法實(shí)現(xiàn)的。此外,利用play back功能還可以截取任意的畫面。
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- 上圖: 裝置 JEM-2800+DRYSD100GV檢測器
樣品: 巖鹽
像素?cái)?shù): 128x128
提取的幀號(hào): 398幀s
透射電子顯微鏡
- SightSKY Camera 光纖耦合CMOS相機(jī)
- CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 場發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡
- JEM-2100 時(shí)間分辨電子顯微鏡及相關(guān)附件
- JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡
- JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡
- JEM-Z300FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡
- JEM-ARM200F NEOARM 原子級(jí)分辨率透射電子顯微鏡
- JEM-Z200FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡
- JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡
- JED-2300T 能譜儀
- EM-05500TGP TEM斷層掃描系統(tǒng)
- JEM-3200FS 場發(fā)射透射電子顯微鏡
- JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡
- JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡
- JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡
- JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡