本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測(cè)定其離面位移的新型,*的測(cè)試技術(shù)。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法。
該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、靈敏性好、非接觸、無需暗房操作,實(shí)時(shí)顯示全場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn),故而應(yīng)用廣泛,如物體形變測(cè)量、無損測(cè)量、震動(dòng)測(cè)量等。
該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、靈敏性好、非接觸、無需暗房操作,實(shí)時(shí)顯示全場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn),故而應(yīng)用廣泛,如物體形變測(cè)量、無損測(cè)量、震動(dòng)測(cè)量等。
- 自己調(diào)節(jié)光路,可提高動(dòng)手能力
- 采用了處理光學(xué)信息的CCD測(cè)量技術(shù)
- 計(jì)算機(jī)處理圖象,軟件操作簡(jiǎn)便
- 可利用軟件畫出測(cè)試表面受力變形后的三維立圖
CCD攝像機(jī)(帶電源)、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)整架、分束鏡、擴(kuò)束鏡、準(zhǔn)直鏡、聚焦透鏡、平面反射鏡、偏振片、被測(cè)物品等