表面粗糙度測量功能

?  高分辨力型 Z1 軸檢出器作為標準件提供。 Z1 軸的顯示分辨力為 0.0001µm( 測量范圍為 8µm 時 ) 。

? X 軸內置高精度玻璃光柵尺，直接讀取 X軸移動距離，在高精度準確定位下，完成間距參數的評價。

?  檢出器測力有 4mN 和 0.75mN 可選。

輪廓測量功能

? Z1 軸 ( 檢出器 ) 上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比，新測臂使 Z1軸測量范圍增大了 10mm  同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。

?  專為 SV-C-4500 系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統的專用功能。

( 1 ) 裝配雙錐面測針，實現垂直方向 ( 上 / 下) 連續測量，所獲取的數據實現簡單分析以往難以測量的內螺紋有效直徑。

( 2 ) 測力可在 FORMTRACEPAK 軟件中設置。無需調整配重。

?  的表面粗糙度 / 輪廓 FORMTRACEPAK分析程序，通過簡單的操作就能進行分析并即刻輸出結果。

?  表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結合在一起，節省安裝空間。