EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個專門用來測試磁場(H)探頭,它有效地屏蔽了電場干擾(E),主要用于電磁兼容整改時定位干擾源的近場探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz,共4種探頭形狀;EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz,共3種探頭形狀。
EM5030E系列探頭組包含了2個專門用來測試電場(E)的探頭,覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz,主要應用于查找電場干擾源,除了探頭其他部分均為屏蔽設計。
探頭通過50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當產品的輻射或傳導干擾超過標準時,可用近場探頭來尋找產品中哪個元件或電路產生了該頻率的干擾,能夠檢測模塊之間的耦合通道以及評估系統內信號切換速率、RF電壓等。當干擾信號比較弱時,可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統測試靈敏度。
EM5020前置放大器配合本公司EM5030近場探頭使用,主要對所要測試的微弱信號進行放大, 頻率范圍9kHz-3GHz;EM5020A增益約為20dB,EM5020B增益約30dB,可以大大提高系統測試的靈敏度。標配USB適配器和USB升壓電源轉接線,可以直接通過頻譜分析儀或者接收機自帶的USB接口供電,使用更加方便。配合本公司EM5030近場探頭可以快速準確地確定電磁干擾源頭,避免盲目更改EMI設計,能大幅提高產品開發效率,并降低開發成本。
EM5030E系列探頭組包含了2個專門用來測試電場(E)的探頭,覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz,主要應用于查找電場干擾源,除了探頭其他部分均為屏蔽設計。
探頭通過50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當產品的輻射或傳導干擾超過標準時,可用近場探頭來尋找產品中哪個元件或電路產生了該頻率的干擾,能夠檢測模塊之間的耦合通道以及評估系統內信號切換速率、RF電壓等。當干擾信號比較弱時,可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統測試靈敏度。
EM5020前置放大器配合本公司EM5030近場探頭使用,主要對所要測試的微弱信號進行放大, 頻率范圍9kHz-3GHz;EM5020A增益約為20dB,EM5020B增益約30dB,可以大大提高系統測試的靈敏度。標配USB適配器和USB升壓電源轉接線,可以直接通過頻譜分析儀或者接收機自帶的USB接口供電,使用更加方便。配合本公司EM5030近場探頭可以快速準確地確定電磁干擾源頭,避免盲目更改EMI設計,能大幅提高產品開發效率,并降低開發成本。