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微區光電流及光譜測試平臺

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先鋒科技是國內的光電產品系統集成商之一,總部位于香港。目前擁有員工30余人,銷售工程師及技術服務工程師全部具有相關專業的大學本科及以上學歷。憑借在光電領域前沿的不斷探索,公司不僅為用戶提供國外原廠生產的各類標準產品,而且致力于根據用戶的具體要求,提供完整的系統解決方案,包括設計、生產、集成和二次開發等。公司一直持續關注光電類前沿的技術產品,從初期只與有限幾個品牌有業務關系,發展到現在與幾十家歐美公司長期密切合作。公司提供的產品,其涵蓋面也從最初的光譜儀器單一類別,發展到現在的成像產品、各種激光器、激光測試、太赫茲、光度色度測試、光電元器件、光學元件、精密光學機械運動控制等幾乎所有光電行業產品系列。公司實行不同產品系列團隊負責制,力爭將銷售和技術崗位的工程師都培養成為各自負責產品類別的人才,實實在在地讓客戶體會到專業團隊的專業服務!公司擁有一支具備專業知識的銷售工程師團隊,并始終要求相關團隊成員,在銷售過程中從各個領域內的用戶處時刻更新自己的知識內容,保持對各應用領域內新研究內容的了解,從而能夠結合儀器設備的技術特點,按照廣大用戶的不同應用要求,提供準確、*的各種儀器解決方案。公司的技術服務工程師積累了豐富的儀器安裝、調試及故障解決經驗,并不斷結合科研生產儀器設備的新技術新發展及用戶的要求,努力完善售后服務體系,力爭做到在盡可能短的時間內為用戶提供迅速有效的技術響應,使用戶的各種技術服務要求盡量得到滿足。針對主營產品和業務,公司每年定期安排技術服務工程師參加各類技術培訓,購買相應的零配件,力爭做到絕大部分的主流產品維修本地化,免除由于路程往返造成的時間、費用和工作效率上的損失。公司門的貿易專員,每年均要處理大量的貿易合同。公司商務團隊,以其豐富國際貿易經驗,努力協調公司內外以及公司內部各部門的行動,力爭讓用戶在更短的時間內收到訂購的儀器,享受到相應的服務。全體員工努力工作的目標是:把公司建設成為一個光電行業系統集成業務市場中,先鋒科技衷心希望得到新老客戶一如既往的支持!
氣體分析儀,計數器,光學顯微鏡
Tuotuo 科技TTT-03微區光電流及光譜測試平臺采用的模塊化光學、機械、探測器及軟件設計理念,搭載多波長/多品種激光光源、電流-電壓測試儀表、光譜儀、高精度平移臺以及集中控制軟件,實現材料器件的微區光電響應測試及掃描成像、電致發光/光致發光等多種光譜探測、發光壽命探測等功能。
微區光電流及光譜測試平臺 產品信息

微區光電流及光譜測試平臺

Tuotuo 科技TTT-03微區光電流及微區光譜測試平臺采用的模塊化光學、機械、探測器及軟件設計理念,搭載多波長/多品種激光光源、電流-電壓測試儀表、光譜儀、高精度平移臺以及集中控制軟件,實現材料器件的微區光電響應測試及掃描成像、電致發光/光致發光等多種光譜探測、發光壽命探測等功能。

系統構成

l 成像系統

- 研究級正置或倒置顯微鏡

- 可配置各波段、各種靈敏度相機

- 錐光觀測裝置,輕松準直

- 紫外-可見--紅外多種物鏡

l 激光及光源

- 高穩定激光合束器可容納多達8臺激光器,電動切換

- 深紫外 - 遠紅外全兼容

- 自動偏振、強度控制

- 支持飛秒~納秒脈沖激光

- 支持超連續譜、燈室等寬譜光源

l 樣品臺

- 高負載、高精度X-Y平移臺

- 直流、RF探針支持

- 低溫/變溫支持

- 外加電磁場支持

l 測試

- 電學測試(光電流,I-V)

- 明暗場成像

- 發射光譜

- 各向異性測量

- TCSPC壽命測量及成像

- ......

增強款微區光電流/光譜系統

微區光電流及光譜測試平臺功能與配置

顯微及成像功能

l 研究級正置、倒置顯微鏡

l 支持明暗場成像

l 電致發光成像、光致發光成像

l 雙光子/多光子熒光成像

l 二次諧波成像

l 可選配工業觀察相機、高靈敏度科研級CCD相機及EMCCD相機等

l 可選配近紅外/ 中遠紅外成像相機

l 支持標準物鏡、長工作距離物鏡、紫外/紅外物鏡

光源

l 266nm - 2μm波長,可同時配置8路光源,軟件切換

l 可支持2μm - 12μm 中紅外光源

l 可支持飛秒振蕩器、放大器、OPA、皮秒、納秒激光器等脈沖光源

l 可擴展脈沖LED光源

l 可支持燈室、超連續譜、ASE、SLD等寬帶光源

l 全自動偏振控制

l 全自動衰減控制

光電流測試

l 微區分辨率:500nm

l 掃描分辨率:50nm

l 掃描定位精度:±100nm

l 掃描行程:100mm

l 激發波長:取決于所選配光源

l 全自動掃描測試

光譜測試

l 兼容主流掌上光譜儀及科研級高靈敏度光柵光譜儀

l PL光譜、反射光譜、單顆粒散射光譜測試

l TCSPC熒光壽命測試及掃描成像

擴展

l 低溫樣品室

l 偏置電磁場

測試示例

半導體器件微區光電流掃描成像

鈣鈦礦PL成像

MAPbI3體系強度相關PL光譜及PL壽命

金納米顆粒單顆粒雙光子熒光光譜(左)

金納米顆粒偏振敏感雙光子熒光(右)


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