植物冠層分析儀是田間林地常用的用于檢測作物葉面積指數的農業儀器，該儀器在設計之初就充分考慮到系統使用的便捷性和測量項目的多樣性，因此系統可以測量包括葉面積大小、葉片的生長情況、冠層結構、葉片透光率等在內的多項植物冠層數據。

   

   儀器測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。植物冠層分析儀不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光照條件下進行測量工作（但是較好是在接近中午的時候）。

 

     作物葉面積指數(LAI)，表示地表單位面積內植物光合組織單面面積的總和，葉面積指數定量地描述了群體水平上葉子的生長與葉密度間的變化關系，它對光能利用，干物質積累，收獲量及經濟效益都有顯著的影響，是作物模型和科學研究中的重要參數。葉面積指數觀測方法很多，主要分為直接測量法和間接測量法。傳統直接取樣測量法能較好反映該參數，但費時費力，且需要破壞性取樣，限制了該方法的大面積的田間使用。使用植物冠層分析儀可以解決這個難題，植物冠層分析儀可以依據入射到冠層頂部的太陽輻射衰減速率推算葉面積指數及冠層結構，具有對葉片無損傷、對觀測對象可重復測量等特點。

 

   但受田間因素影響，植物冠層分析儀測定的植物葉面積指數與傳統手測方法測定的葉面積指數有一定的差異。植物冠層分析儀的測量誤差有變化，認為可能與非光合器官及枯黃葉片對光線的攔截所致。

 

    綜述，植物冠層分析儀在分析葉面積指數的過程中有著的作用！如有產品咨詢或者更公司建議請及時！