測量參數
阻抗 (Z) 相位角 (θ)
電容 (C) 損耗因子 / tan δ (D)
電感 (L) 品質因數 (Q)
交流電阻 (R) 電抗 (X)
直流電阻 (Rdc) 導納 (Y)
電納 (B) 電導 (G)
Frequency Model Frequency Range
4310 20 Hz to 100 kHz
4320 20 Hz to 200 kHz
4350 20 Hz to 500 kHz
43100 20 Hz to 1 MHz
43200 20 Hz to 2 MHz
1J4310 頻率范圍20Hz~100kHz
1J4320 頻率范圍20Hz~200kHz
1J4350 頻率范圍20Hz~500kHz
1J43100 頻率范圍20Hz~1MHz
1J43200 頻率范圍20Hz~2MHz
• 測試頻率:20Hz—2MHz(43200)
• 基本精度:0.1%
• 測試速度:<20ms
• 提供B1、B2、S1和S2測包訊號,可連接各家封裝測試機
• 測試參數:阻抗(Z), 相位角(θ)、交流電阻(Rac)、電容(C), 損耗因數(D),電感(L), 品質因數(Q),電納(B), 電導(G), 電抗(X), 導納(Y)和直流電阻(Rdc)
• 交流信號源:10mV—2Vrms
• 通信接口:GPIB、RS232、LAN和USB
• 直流疊加:內置+2V,外加0—±40V
• 具有帶電電容器放電保護電路
• 體積小、重量輕、性價比更高的元器件測試儀器