產(chǎn)品展示

集成礦物分析儀 TIMA3 LMU/LMH

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鉑悅儀器（上海）有限公司北京辦事處
2015-10-27 10:00:00
北京市
499

【簡單介紹】

TIMA3 LMU/LMH是一款基于鎢燈絲掃描電子顯微鏡設(shè)計的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應(yīng)用。TESCAN的*技術(shù)是基于一個*集成的EDX系統(tǒng)，能以非常快的速度執(zhí)行全譜掃描，可用于礦石特性檢測、工藝優(yōu)化、修復(fù)技術(shù)和貴金屬與稀土的尋找。SEM和EDX硬件的集成水平實現(xiàn)了以*的采集速度*自動化的數(shù)據(jù)采集，并得到快速、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果。

【詳細(xì)說明】

zui重要的特性：

u 通過高水平的SEM和EDX硬件集成實現(xiàn)了快速、*自動化的數(shù)據(jù)采集；

u 基于VEGA SEM平臺；

u 新設(shè)計的樣品臺集成了BSE/EDX校正標(biāo)準(zhǔn)和法拉第杯；

u 根據(jù)客戶的需求更改樣品的尺寸；

u zui多集成4個EDX探測器確保系統(tǒng)的性能zui高；

u 新的Peltier冷卻型EDX探測器確保熱穩(wěn)定性；

u 改進(jìn)的方法使數(shù)據(jù)分析既快又可靠；

u 根據(jù)樣品的每個部分可調(diào)整掃描和EDX分析的時間；

u 離線數(shù)據(jù)處理；

u 各種各樣的數(shù)據(jù)分析模塊；

u 可自定義的分類規(guī)則；

u 可定制的解決方案。

技術(shù)參數(shù)：

1.分辨率:高真空(二次電子)1.2nm at 30kv，
(背散射電子):2 nm at 30 kV
低真空(低真空二次電子)﹕1.5 nm at 30 kV
2.放大倍數(shù):2 ~ 1000000倍;
3.真空系統(tǒng): 低真空7~500Pa
4.加速電壓0.2kV to 30Kv
5.電子束電流2pA~200nA
6.樣品室內(nèi)部直徑：230mm(寬）
7.樣品臺行程:
全計算機(jī)控制優(yōu)中心樣品臺
X=79mm----馬達(dá)控制
Y=29mm----馬達(dá)控制
Z=29mm----馬達(dá)控制


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