M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺式 μ-XRF 光譜儀，用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、成本效益， 可以提供與材料元素成分有關的準確信息。

測定鍍層樣品厚度及成分例如

Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Sn-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pd-Ni-Cu

珠寶及合金分析：

M1 MISTRA是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品。不到1分鐘就可以確定其準確成分。分析結果可以用百分含量或K（開）表示。

該儀器具備高空間分辨率，光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形狀的樣品，例如zui復雜的珠寶，而無需進一步的制備，更重要的是，它的分析是無損的。支持的樣品尺寸zui大可達 100x100x100 立方毫米。帶有交叉十字線的視頻顯微鏡，可以精確定位到您要測量的位置。電動 Z 型取樣臺允許快速聚焦。可選的 X-Y-Z 取樣臺甚至可以提供更大的舒適性。
M1 MISTRAL 配備了高亮度微焦點 X 射線管，確保出色的激發測量光斑，產生高熒光效應。憑借功能強大、易于使用的 XSpect 軟件套件，該儀器可交付準確的量化結果，而不論是分析塊狀材料還是zui復雜的多層結構。