分析方法能量色散X熒光分析方法 測量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測量 同時檢測元素數幾十種元素可同時分析 處理器和內存CPU：667MHz,內存：256M，擴展存儲支持32G，標配2G，可以海量存儲數據 含量范圍ppm～99.99% 檢測時間3-30秒 GPS、WIFI內置系統 檢測對象固體、液體、粉末 探測器25mm2 0.3mil，SDD探測器 探測器分辨率可達139eV 激發源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源 視頻系統高清晰攝像頭 顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480 檢出限檢出限達ppm級 安全性自帶密碼管理員模式，數據可隨意保存 可充氣系統常壓充氦氣系統 數據傳輸數字多道技術，SPI數據傳輸，分析，高計數率 操作環境濕度≤90% 儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W） 儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無電池）
手持式合金分析儀 應用領域◆廢舊金屬回收◆PMI鑒別◆生產制造QA/QC控制◆流體加速腐蝕◆貴金屬分析 產品特點 性能 精度高，接近實驗室級的分析水平，可直觀顯示合號和元素百分比含量（某些元素可顯示到小數點后三位）及ppm含量 速度快，操作簡單 “開機啟動—瞄準測試—察看結果"，整個分析過程僅需數秒便可完成，合號鑒別只需1~2秒鐘，操作簡單，即使非技術人員也可輕松掌握。
手持式光譜儀用于的定量定性分析：
手持式光譜儀是一種功能強大,并且可擴展的手持式光譜儀,廣泛用于金屬材料的成分分析,牌號鑒別和分選.它包括激發和配有可充電電池的光譜儀主機兩部分.它工作時,既不需要氬氣,也不需要放射源。 1、原理：手持式光譜儀屬于熒光光譜,實驗室用的直讀屬于火花直讀光譜,是激發源不同 2、精度：手持式光譜儀主要用于定性分析,實驗室用的火花直讀光譜主要用于定量分析 3、分析范圍：手持式光譜儀可分析金屬及礦石,并且可分析一些火花直讀無法激發的基體,例如鋯基體；實驗室直讀光譜儀雖然分析的基體比手持式的少,但是相同基體里分析的元素種類比手持式的要多。
手持式光譜儀的應用非常廣泛，涉及：電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航空航天、地質勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦產貿易、金屬冶煉、環境監測、土壤監測、玩具、服裝、鞋帽、電子產品等眾多領域。便宜、的手持式拉曼光譜儀正在迅速成為原料藥采購質量控制的有力工具。拉曼光譜儀是未知化合物的有力工具，例如檢測高純度化學品、成分驗證和高分子材料的表征。拉曼光譜儀器大受歡迎主要是由于現代儀器所配備的智能決策軟件和譜圖庫，使得它成為理想的分子指紋圖譜分析技術。不同于傳統的分子光譜技術，拉曼光譜儀可用于生產環境或現場應用，因為它能產生尖銳、特異的譜峰，幾乎不需要樣品前處理或直接與樣品接觸。此外，它還具有特的能力，可以通過透明的包裝材料，如玻璃或塑料，直接測試樣品，并對光譜信息沒有任何干擾。手持式光譜儀正在成為原料藥采購中質量控制的有力分析工具。其被廣泛接受的原因是，它用于倉庫化學品的識別，比傳統的實驗室分析技術更具成本效益。
手持式光譜儀設備維護與保養：
1.手持式光譜儀使用過程中應輕拿輕放，防止內部零件受損。
2.保持檢測口薄膜的清潔，檢測口薄膜被污染可能引起檢測誤差。檢測口薄膜破損繼續使用可能會造成手持式光譜儀的損壞。應及時清潔或更換。
3.被檢測物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機或金剛砂去除，以免造成測量結果不準確，被檢測物表面凹凸不平、有毛刺時應在檢測時注意，防止手持式光譜儀檢測口薄膜損壞。檢測鍍件時，要將電鍍層去除。
4.手持式光譜儀電池使用至10%時，應更換電池，充電。
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。
手持式光譜分析儀 產品優勢：
1、一鍵式開機并檢測。 2、一體式供電，解決了電腦缺電造成測試數據丟失的風險。 3、只需開機一次。（超長待機無需關閉電源，無檢測操作時自動待機，同時光管及探測器斷電停止工作） 4、自動關機（自定義長時間未進行檢測操作）
