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先鋒科技(香港)股份有限公司


光纖光譜儀

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更新時間:2022-10-27 09:06:13瀏覽次數:272次

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產品簡介

美國SlerNet光纖光譜儀——緊湊、便攜、穩定、操作簡單、性價比高。美國SlarNet 是專業微型供應商。其光譜儀外觀緊湊小巧,便攜設計,操作方便,性價比高,具有*的電子系統和功能強大的探測器,是的。光譜測量范圍在190nm-2300nm之間,波長分辨率小于0.1nm。探測器采取插拔式設計,適用于各種應用與工業用戶的多樣化需求。

詳細介紹


微型光纖光譜儀的

美國SlerNet為您提供光譜系統解決方案

——緊湊、便攜、穩定、操作簡單、性價比高。

進行時……

美國SlarNet 是專業微型光纖光譜儀供應商。其光譜儀外觀緊湊小巧,便攜設計,操作方便,性價比高,具有*的電子系統和功能強大的探測器,是的。光譜測量范圍在190nm-2300nm之間,波長分辨率小于0.1nm。探測器采取插拔式設計,適用于各種應用與工業用戶的多樣化需求。

BLACK-Comet

業績內光譜覆蓋zui寬的凹面光柵光譜儀
280-900nm,zui大限度抑制雜散光。

  • * 帶偏差校正的凹形光柵使光譜像近乎*
  • *凹面光柵設計使設備無反射鏡將漫射光抑制在zui低限度
  • *平面場在整個波長范圍具有均勻的分辨率(<1nm)
  • *在400nm以下的UV區域比平面光柵靈敏度高出50%
  • *設備集成度高(尺寸僅為2.7*4.3*6英寸)
  • * 具有穩固的抗震結構,無需內部光學平差

BLUE-Wave小型光分光
UV-VIS-NIR&OEM

  • *多種型號選擇波長范圍覆蓋190-1150nm
  • * UVN光柵技術在UV和NIR波段都有很好的衍射效率
  • * 16bit的數據轉換,內置存儲器,高速的USB2的接口
  • *利用USB hub可以同時連接和驅動8個設備
  • * TTL同步觸發可以做等離子檢測和LIBS
  • *抗震動的小型堅固的金屬封裝

RED-Wave InGaAs分光
0.9-1.7um&0.9-2.3um

  • *TE制冷512的InGaAs陣列,像元大小25*500um
  • * 利用2次校正,可以得到4000:1的信噪比
  • * 的512探測器在25um的狹縫下具有5nm的分辨率
  • *可選1024探測器25um的狹縫具有2.5nm分辨率
  • *16bit數據轉換10倍的增益調制,高速USB2接口
  • *抗震動的小巧堅固的金屬封裝(2.7*4.3*6英寸)

GREEN-Wave 小型的低價位光分光
UV-VIS-NIR

  • *多種型號選擇波長范圍覆蓋190-1150nm
  • * UVN光柵技術在UV和NIR波段都有很好的衍射效率
  • *12bit的數據轉換,內置存儲器,USB1接口
  • * 光學分辨率達到0.3nm(FWHM)
  • * 抗震動的小巧堅固的金屬封裝
  • *低成本應用的理想選擇比如教學實驗和分光輻射度計
  • 系統應用

LIBS系統

集成了微型和高峰值功率的小型激光器的LIBS系統(Laser Induced Breakdown Spectroscopy),可以進行野外實時元素定性分析。此LIBS系統手提箱般的大小,優良的抗震性和良好的溫度穩定性,使整套系統非常方便于野外作業。系統可以依靠電池或直流電源供電。通過一臺1064nm Nd:YAG 激光器(峰值功率達到MW量級)聚焦后打在目標物體上,以產生等離子體。在等離子體冷卻湮滅的過程中,等離子體束中被激活的原子會發射出與元素有關的特性光譜。一般元素的發射光譜都在200-980nm的波長范圍內。通過SlarNet提供的Spectral ID元素發光光譜數據庫,系統可以直接給出譜線所對應的各種元素。LIBS系統的優點在于,不需要任何樣品準備,測試時間非常短(一般在一秒鐘之內)。



化學測量系統

ChemWiz-2000 是一款實用型的化學用光譜儀,可以用來進行各種物質的成份分析、濃度分析以及物質鑒別。很多物質都有其特定的吸收峰或吸收帶,我們只要測出該物質的吸收曲線,既可以對該物質進行一系列分析,如所含成分、含量等。ChemWiz-2000還可以實現在很多生產過程中實時監控。



輻射度測量

系統主要用于測量發光體的各波長的輻射度分布。輻射度光譜儀可以用來測量LED的光強,xy chromaticity (CIE 1931),純度,和主要波長等。光譜儀需要配合余弦接受器或積分球一起使用。SlarNet在輻射度光譜儀出廠之前,全部經過NIST(美國國家標準與技術研究院)標準光源的校正過,以保證測量結果的準確性。此外SlarNet還提供輻射度校正光源供客戶自己進行校正。




薄膜測量

在薄膜測量方面,光譜儀應用非常廣泛。薄膜厚度測量是基于白光干涉的原理來確定光學薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數學函數計算出薄膜厚度。對于單層膜來說,如果已知薄膜介質的n和k值就可以計算出它的物理厚度。

SlarNet可提供低成本的薄膜測量系統。可檢測多層結構,單層的,粗糙的,已經薄厚不均的樣品。測量膜厚范圍50A-20um,精度為0.2% 或者10A

熒光光譜測量

針對熒光光譜測量,美國SlarNet公司提供350-1000nm,200-850nm和250-900nm三種光譜儀配置。樣品被特定光譜范圍的激發光照射后,產生波長更長的熒光。用戶可以通過特殊的樣品池或者光纖探頭對熒光進行探測。光譜由一根1000um的光纖傳輸到光譜儀。如果需要,我們還能提供各種多通道光譜儀配置。

比較常用的激發光源是470nm藍光LED燈(SL1-BLUE),這種光源線寬為30nm,只需要20mA驅動電流,而且價格非常便宜。另外脈沖的氙燈(SL4-XENON)配合濾波器使用,可以提供更高強度的激發光。SlarNet提供的氘燈(SL3-DEUT)則可以提供高功率連續激發光源。系統提供IEEE1248和USB-2.0兩種接口。光譜儀驅動電流為5V,系統附帶有交流轉直流變壓器。

顏色測量

SlarNet微型光譜儀可以對各種樣品進行顏色測量和對比,通過光纖反射探頭可以對固體樣品的顏色進行測量;通過浸入式光纖探頭和透射試管可以對液體的顏色進行測量。系統附帶功能強大的SpectraWiz,而且這套軟件是免費的!對于顏色測量,SpectraWiz系統提供標準的CIE 1976 L* a* b* (CIELAB)顏色空間數據。L*代表顏色的亮度。正a*值代表紅色,負a*值代表綠色。與此相似,正b*值代表黃色,負b*值代表藍色。L*a*b*值可由樣品(物體)的CIE三刺激值X,Y,Z和標準光源的三刺激值Xn, Yn, Zn推導得到。
對于比色測量,需要先對一個標準的樣品進行測試并保存其光譜。然后系統可以根據所測樣品和標準樣品的光譜差別計算出△E,△E用以表征兩種樣品顏色的差別。對于需要多束光得color monitors過程,SlarNet還可以提供相應得多通道光譜儀。



關鍵詞:光譜儀

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