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先鋒科技（香港）股份有限公司
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Tuotuo 科技TTT-03微區光電流及光譜測試平臺采用的模塊化光學、機械、探測器及軟件設計理念，搭載多波長/多品種激光光源、電流-電壓測試儀表、光譜儀、高精度平移臺以及集中控制軟件，實現材料器件的微區光電響應測試及掃描成像、電致發光/光致發光等多種光譜探測、發光壽命探測等功能。
微區光電流及光譜測試平臺
Tuotuo 科技TTT-03微區光電流及微區光譜測試平臺采用的模塊化光學、機械、探測器及軟件設計理念，搭載多波長/多品種激光光源、電流-電壓測試儀表、光譜儀、高精度平移臺以及集中控制軟件，實現材料器件的微區光電響應測試及掃描成像、電致發光/光致發光等多種光譜探測、發光壽命探測等功能。
系統構成
l 成像系統
- 研究級正置或倒置顯微鏡
- 可配置各波段、各種靈敏度相機
- 錐光觀測裝置，輕松準直
- 紫外-可見--紅外多種物鏡
l 激光及光源
- 高穩定激光合束器可容納多達8臺激光器，電動切換
- 深紫外 - 遠紅外全兼容
- 自動偏振、強度控制
- 支持飛秒~納秒脈沖激光
- 支持超連續譜、燈室等寬譜光源
l 樣品臺
- 高負載、高精度X-Y平移臺
- 直流、RF探針支持
- 低溫/變溫支持
- 外加電磁場支持
l 測試
- 電學測試（光電流，I-V）
- 明暗場成像
- 發射光譜
- 各向異性測量
- TCSPC壽命測量及成像
- ......
增強款微區光電流/光譜系統
微區光電流及光譜測試平臺功能與配置
顯微及成像功能 | l 研究級正置、倒置顯微鏡 l 支持明暗場成像 l 電致發光成像、光致發光成像 l 雙光子/多光子熒光成像 l 二次諧波成像 l 可選配工業觀察相機、高靈敏度科研級CCD相機及EMCCD相機等 l 可選配近紅外/ 中遠紅外成像相機 l 支持標準物鏡、長工作距離物鏡、紫外/紅外物鏡
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光源 | l 266nm - 2μm波長，可同時配置8路光源，軟件切換 l 可支持2μm - 12μm 中紅外光源 l 可支持飛秒振蕩器、放大器、OPA、皮秒、納秒激光器等脈沖光源 l 可擴展脈沖LED光源 l 可支持燈室、超連續譜、ASE、SLD等寬帶光源 l 全自動偏振控制 l 全自動衰減控制 |
光電流測試 | l 微區分辨率：500nm l 掃描分辨率：50nm l 掃描定位精度：±100nm l 掃描行程：100mm l 激發波長：取決于所選配光源 l 全自動掃描測試 |
光譜測試 | l 兼容主流掌上光譜儀及科研級高靈敏度光柵光譜儀 l PL光譜、反射光譜、單顆粒散射光譜測試 l TCSPC熒光壽命測試及掃描成像 |
擴展 | l 低溫樣品室 l 偏置電磁場 |
測試示例
半導體器件微區光電流掃描成像
鈣鈦礦PL成像
MAPbI3體系強度相關PL光譜及PL壽命
金納米顆粒單顆粒雙光子熒光光譜（左）
金納米顆粒偏振敏感雙光子熒光（右）
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