知用EM5030近場測試探頭

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更新時間：2022-10-17 08:41:32瀏覽次數：165次

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產品簡介

EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個專門用來測試磁場（H）探頭，它有效地屏蔽了電場干擾（E），主要用于電磁兼容整改時定位干擾源的近場探頭

詳細介紹

EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個專門用來測試磁場（H）探頭，它有效地屏蔽了電場干擾（E），主要用于電磁兼容整改時定位干擾源的近場探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz，共4種探頭形狀；EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz，共3種探頭形狀。

EM5030E系列探頭組包含了2個專門用來測試電場(E)的探頭，覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz，主要應用于查找電場干擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設計。
探頭通過50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當產品的輻射或傳導干擾超過標準時，可用近場探頭來尋找產品中哪個元件或電路產生了該頻率的干擾，能夠檢測模塊之間的耦合通道以及評估系統內信號切換速率、RF電壓等。當干擾信號比較弱時，可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統測試靈敏度。

EM5020前置放大器配合本公司EM5030近場探頭使用，主要對所要測試的微弱信號進行放大，頻率范圍9kHz-3GHz；EM5020A增益約為20dB，EM5020B增益約30dB,可以大大提高系統測試的靈敏度。標配USB適配器和USB升壓電源轉接線，可以直接通過頻譜分析儀或者接收機自帶的USB接口供電，使用更加方便。配合本公司EM5030近場探頭可以快速準確地確定電磁干擾源頭，避免盲目更改EMI設計，能大幅提高產品開發效率，并降低開發成本。

關鍵詞：電纜