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北京中瑞先創科技有限公司
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MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統，集成熒光、共焦拉曼測量功能*
MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統，集成熒光、共焦拉曼測量功能*。通過把光譜測量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實現顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測量。系統由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測試模塊等部分構成。
*注：使用光纖代替共聚焦系統內的小孔（Pinhole）。
應用范圍
法學：筆跡鑒定、檢測等
定制顯微鏡
MicroTEQ-A1 系統可以適配不同品牌和種類的顯微鏡，客戶可根據需求自行挑選。同時，由于應用領域的多樣性，客戶對系統性能的側重點各不相同，該系統對此提供定制服務，滿足客戶的不同需求。
系統參數
型號 | MicroTEQ-A1 | ||
光譜儀配置 | 拉曼 | 拉曼 | 熒光 |
光譜儀 | QEPRO@532 nm | QEPRO@785 nm | QEPRO-FL |
光譜范圍 | 150-4200 cm-1@532 nm | 150-2000 cm-1@785 nm | 300-1050 nm |
分辨率 | ~10 cm-1@5 um狹縫 | ~6 cm-1@5 um狹縫 | 1.5 nm@5 um狹縫 |
探測器 | 背照減薄型面陣CCD | ||
激光器 | 單縱模激光，可選用光纖外接其他激光器 | ||
功率 | 50 mW | ||
波長 | 532 nm | ||
光束發散 | 1.3 mrad | ||
顯微光譜測量模塊 | 400-1100 nm | ||
模塊輸出能量 | 25 mW | ||
手動衰減切換 | 50%, 10%, 1%, 0.1% | ||
光斑尺寸 | 10x NA0.25 物鏡下 <=10> | ||
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