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惠州市華高儀器設備有限公司


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牛津CMI165系列手持式面銅測厚儀

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參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質其他

所  在  地惠州市

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更新時間:2022-11-22 10:57:53瀏覽次數(shù):247次

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經(jīng)營模式:其他

商鋪產(chǎn)品:437條

所在地區(qū):廣東惠州市

產(chǎn)品簡介

牛津CMI165系列手持式面銅測厚儀

詳細介紹

牛津CMI165系列 帶溫度補償功能的面銅測厚儀 手持式面銅測厚儀

 

 

  牛津儀器CMI165系列用于測試高/低溫的PCB銅箔、蝕刻或整平后的銅厚定量測試、電鍍銅后的面銅厚度測量,在PCB鉆孔、剪裁、電鍍等工序前進行相關銅箔來料檢驗。


  儀器規(guī)格:

厚度測量范圍:化學銅:0.25μm–12.7μm(0.01mils–0.5mils)

電鍍銅:2.0μm–254μm(0.1mil–10mil)

線性銅線寬范圍:203μm–7620μm(8mil–300mil)

儀器再現(xiàn)性:0.08μm at 20μm(0.003 mils at 0.79 mils)

顯示單位:mil、μm、oz

操作界面:英文、簡體中文

存 儲 量:9690條檢測結果(測試日期時間可自行設定)

測量模式:固定測量、連續(xù)測量、自動測量模式

統(tǒng)計分析:數(shù)據(jù)記錄,平均數(shù),標準差,上下限提醒功能

  配置包括:

主機

SRP-T1探頭

NIST認證的校驗用標準片1個

  儀器特點:

應用*的微電阻測試技術,符合EN14571測試標準。SRP-T1探頭由四支探針組成,AB為正極CD為負極;測量時,電流由正極到負極會有微小的電阻,通過電阻值和厚度值的函數(shù)關系準確可靠得出表面銅厚,不受絕緣板層和線路板背面銅層影響

耗損的SRP-T1探頭可自行更換,為牛津儀器產(chǎn)品

儀器的照明功能和SRP-T1探頭的保護罩方便測量時準確定位

儀器具有溫度補償功能,測量結果不受溫度影響

儀器為工廠預校準

測試數(shù)據(jù)通過USB2.0 實現(xiàn)高速傳輸,可保存為Excel文件

儀器使用普通AA電池供電 

 

關鍵詞:測厚儀 PC

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