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技術(shù)文章
電子半導(dǎo)體圖像法清潔度分析系統(tǒng)
點(diǎn)擊次數(shù)：600 發(fā)布時(shí)間：2020-6-16
普洛帝進(jìn)軍電子半導(dǎo)體粒度分析事業(yè)，潛心力作——電子半導(dǎo)體圖像法清潔度分析系統(tǒng)
顯微鏡圖像分析系統(tǒng)，給電子半導(dǎo)體污染度評(píng)估帶來全新視覺角度分析——電子半導(dǎo)體圖像法污染物分析系統(tǒng)PLD-MPCS2.0
電子半導(dǎo)體清潔度分析系統(tǒng)是普勒新世紀(jì)實(shí)驗(yàn)按照普洛帝分析儀器事業(yè)部的規(guī)劃，于2001年推向市場(chǎng)的成熟系統(tǒng)儀器；
觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、數(shù)量、大小、平均長(zhǎng)徑比以及長(zhǎng)徑比分布等，為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測(cè)試手段；
電子半導(dǎo)體清潔度分析系統(tǒng)為一種圖像法粒度分布測(cè)試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、圖像測(cè)試 CCD 攝像頭、三維立體載物平臺(tái)、圖像法顆粒分析系統(tǒng)軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成；為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測(cè)試手段。
測(cè)試軟件具有審計(jì)追蹤、權(quán)限管控、電子記錄、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、計(jì)量驗(yàn)證、報(bào)告模板、圖像存儲(chǔ)、顆粒追蹤、報(bào)告輸出、清潔度分析等功能；
全面自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)選擇、顆粒尺寸設(shè)定、顆粒計(jì)數(shù)，或按用戶設(shè)定范圍計(jì)數(shù)，自動(dòng)顯示分析結(jié)果，并按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定產(chǎn)品等級(jí)；
將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物；
軟件控制分析過程，手動(dòng)對(duì)焦，手動(dòng)光強(qiáng)(顆粒清潔度測(cè)試必須人為干預(yù)進(jìn)行)，自動(dòng)掃描，自動(dòng)攝入，自動(dòng)分析；
數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動(dòng)膜片掃描系統(tǒng)，無縫拼接，數(shù)字化顯微鏡分析系統(tǒng)；
R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；
顆粒圖像分析軟件及平臺(tái)對(duì)圖像進(jìn)行處理與分析；
引入3D遙感三維調(diào)控技術(shù)，快速定位，快速聚焦，體驗(yàn)極速無卡頓測(cè)試。
顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果；
直觀、形象、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬以及自動(dòng)識(shí)別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn)；
避免激光法的產(chǎn)品缺陷，擴(kuò)展檢測(cè)范圍；
現(xiàn)實(shí)NAS、ISO等標(biāo)準(zhǔn)方法的認(rèn)可；
提供行業(yè)*的“OIL17服務(wù)星”簽約式服務(wù)；