Topsizer Plus 激光粒度分析儀
—— 中國粒度檢測與分析技術(shù)的匠心之作
Topsizer Plus 激光粒度分析儀是繼廣受贊譽(yù)的 Topsizer 后, 作為馬爾文帕納科的全資子公司, 珠海歐美克儀器有限公司推出的又一款粒度分析儀器。該儀器引入了的光學(xué)設(shè)計(jì),結(jié) 合歐美克近 30 年的技術(shù)積累,采用化的供應(yīng)鏈體系,使激光衍射法的測試范圍達(dá) 0.01-3600μm, 代表了當(dāng)前國產(chǎn)激光粒度儀的國際化技術(shù)水平。Topsizer Plus 保持了 Topsizer 量程寬、重復(fù)性好、分 辨力高、真實(shí)測試性能強(qiáng)和智能化程度高等優(yōu)點(diǎn), 通過進(jìn)一步提升光學(xué)設(shè)計(jì)、硬件和反演算法,拓 展了其測試范圍以及實(shí)際測試性能,應(yīng)用遍及化工、機(jī)械、建材、能源、醫(yī)藥等現(xiàn)代工業(yè)的各個(gè)領(lǐng) 域。
在鋰離子電池、制藥、水文和精細(xì)化工等諸多行業(yè),很多用戶選擇歐美克激光粒度儀,尤其是 Topsizer 系列。除了對歐美克品牌和技術(shù)的信賴外,還因?yàn)槠湓醋择R爾文帕納科的產(chǎn)品技術(shù)及質(zhì)量管 理體系,使得儀器測試結(jié)果具有優(yōu)良的準(zhǔn)確真實(shí)性和靈敏度。
不管是制藥用的原材料、制劑還是鋰離子電池正負(fù)極材料等,Topsizer 系列產(chǎn)品保證了測試結(jié)果 和分析能力與國內(nèi)外、行業(yè)上下游黃金標(biāo)準(zhǔn)保持一致。這不僅為用戶節(jié)省了方法開發(fā)和方法轉(zhuǎn)移上 的時(shí)間和成本,更重要的是可避免粒徑檢測不準(zhǔn)帶來的經(jīng)濟(jì)損失和風(fēng)險(xiǎn)。無論在研發(fā)、過程控制還 是質(zhì)量控制上, 都能夠?yàn)橛脩魩碚嬲膬r(jià)值。
一、用途:
測量樣品的粒度分布。既可測量在液體中分散的樣品,也可測量須在氣體中分散的粉體材料。
二、工作原理:
一束平行光在傳播過程中遇到障礙物顆粒,光波會發(fā)生散射(衍射)偏轉(zhuǎn), 偏轉(zhuǎn)的角度跟顆粒的大 小相關(guān)。散射(衍射)現(xiàn)象可以通過 “Mie 散射理論 ”來描述。 一般來說, 顆粒粒徑越大,光波 偏轉(zhuǎn)的角度越小;顆粒粒徑越小,光波偏轉(zhuǎn)角度越大。激光粒度分析儀利用該現(xiàn)象, 測量散射光能 的分布反演計(jì)算被測顆粒的粒度分布。
三、的光學(xué)系統(tǒng)
雙光源技術(shù)
Topsizer Plus 激光粒度分析儀采用雙光源設(shè)計(jì),紅光主光源為進(jìn)口氦-氖激光器,波長 0.6328μm;并 有藍(lán)光輔助半導(dǎo)體光源, 波長 0.466μm,極大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。在國 產(chǎn)主流激光粒度分析儀中,紅藍(lán)雙色光源技術(shù)為歐美克采用。
進(jìn)口高性能氦氖激光器及電源,具有穩(wěn)定可靠的高性能光學(xué)質(zhì)量
采用以長壽命,低噪聲, 高穩(wěn)定性著稱的進(jìn)口氦氖激光器及配套激光電源,為儀器提供近 乎光學(xué)質(zhì)量。在氣體激光器本身帶來的穩(wěn)定波長基礎(chǔ)上,Topsizer Plus 高性能光源系統(tǒng)功率穩(wěn)定, 預(yù)熱時(shí)間短, 偏振比高且穩(wěn)定,波形純度高等特性。確保儀器在不同工作環(huán)境下都能保持穩(wěn)定工作, 具有無需用戶標(biāo)定的持久準(zhǔn)確性性能。
直線光路設(shè)計(jì)
Topsizer Plus 激光粒度分析儀光路系統(tǒng)采用密閉式直線光路設(shè)計(jì),無多余反射光學(xué)部件造成的雜散光, 亦無粉塵污染干擾, 同時(shí)采用高精度全鋁合金光學(xué)平臺, 確保光路穩(wěn)固可靠。
后傅立葉變換單鏡頭設(shè)計(jì)
單鏡頭設(shè)計(jì),采用透鏡后傅立葉變換結(jié)構(gòu),突破了傅立葉透鏡的光瞳制約, 窗口前后向各空間角度 均可接收精準(zhǔn)的散射光信號。 單鏡頭光路設(shè)計(jì)將折射、反射面減到最少,可以進(jìn)一步降低儀器工作 時(shí)的背景噪聲低水平,提高了儀器的信噪比。
長焦距的傅里葉透鏡
Topsizer Plus 激光粒度分析儀選用長焦距的傅立葉透鏡,通過增加測量窗口到光電探測器平面的距離, 使光電探測器能夠準(zhǔn)確分辨更小角度的散射光信號,極大增強(qiáng)了大顆粒的測試能力,儀器的測量上 限達(dá) 3600μm。
合理分布、高感光度的進(jìn)口光電探測器
Topsizer Plus 激光粒度分析儀光電探測器為特殊定制的進(jìn)口光電探測器,確保儀器具有較高的分辨力 和靈敏度。 探測通道數(shù)多達(dá) 103 個(gè),由前向、側(cè)向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系 統(tǒng),探測角大于 140 度,最小探測角 0.016 度。結(jié)合藍(lán)光散射信號,實(shí)現(xiàn)了散射光全角度范圍信號全面準(zhǔn)確的無縫接收。
智能自動對中
四、功能強(qiáng)大的分析軟件
Topsizer Plus 自動對中在幾十秒內(nèi)即可完成,既可作為自動測量的一部分,亦可在屏幕上單擊鼠 標(biāo)來完成。 智能自動對中系統(tǒng)光學(xué)對中精確,
保證了多次測量的重復(fù)性。
出色的分散系統(tǒng)
濕法進(jìn)樣系統(tǒng): SCF- 105B 全自動循環(huán)進(jìn)樣器, 除加樣外的粒度測試操作均可自動控制完成。進(jìn)樣池 采用 316L 不銹鋼,
配置高效率 50W 底部超聲及速度可達(dá) 4000 轉(zhuǎn)/分鐘的精密攪拌裝 置,均無極連續(xù)可調(diào)。
根據(jù)需要可選更多不同特性(例如微量、微量循環(huán)、耐腐蝕等)的濕法進(jìn)樣器
豐富的自定義報(bào)表功能, 方便用戶靈活的獲取數(shù)據(jù)和定制報(bào)表樣式。
用戶可以靈活定義報(bào)告的標(biāo)題、 Logo,選擇在報(bào)告中顯示的模塊,并對這些模塊進(jìn)行設(shè)置。如可調(diào) 整行數(shù)、列數(shù), 坐標(biāo)軸范圍,報(bào)告內(nèi)容和參數(shù)等均可根據(jù)需要設(shè)定。
軟件設(shè)計(jì)模塊化,儀器狀態(tài)可視化,操作界面人性化。 流程界面清晰明了, 擁有導(dǎo)航功能。
儀器具備智能化自動化操作。能夠自檢和自動識別進(jìn)樣系統(tǒng);每次測量前能自動測量電背景,有效 消除電噪聲對測試結(jié)果的影響。配置自動化進(jìn)樣器可以進(jìn)行全自動干濕法粒度測試,手動測樣亦有 清晰的導(dǎo)航測試功能。
具備 SOP 標(biāo)準(zhǔn)操作流程, 減少人為因素的影響,使分析測試流程標(biāo)準(zhǔn)化。
SOP 測量程序編輯及運(yùn)行:
多種數(shù)據(jù)分析模型,滿足不同特性樣品的測試需要。體積分布、表面積分布、長度分布和數(shù)量分布 之間可以相互轉(zhuǎn)換。可根據(jù)用戶需要設(shè)置的粒徑段。
完善、開放的樣品特性參數(shù)數(shù)據(jù)庫,具有常用樣品折射率和吸收率參數(shù)。
多種方式的測量數(shù)據(jù)導(dǎo)出,方便數(shù)據(jù)交流。
提供符合 GMP 附件《計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)》要求的軟件解決方案,具備具有兼容 CFDA/FDA cGMP 21CFR 要 求的用戶分級、權(quán)限管理、數(shù)據(jù)完整性及可追溯功能。
五、的儀器性能
Topsizer Plus 對于 Topsizer 的升級中的一個(gè)重要特點(diǎn)是保留了在 0.02-2000um 段數(shù)據(jù)與 Topsizer 一致性。通過光路、硬件和算法的升級進(jìn)一步提升了測試范圍至 0.01-3600um。
寬廣的測量范圍
與市場上其他使用不同技術(shù)通過拼接的方案提高測試范圍不同, Topsizer Plus 的實(shí)測范圍為 0.01-3600um ,使用靜態(tài)光散射一種技術(shù)實(shí)現(xiàn)從亞微米顆粒到毫米級顆粒的檢測, 嚴(yán)格符合 GBT19077-2016 粒度分析激光衍射法的國標(biāo)要求, 并能滿足不同粉體行業(yè)對顆粒粒度檢測與控制的 各種需求。
對大顆粒具有強(qiáng)大測試能力
對納米、亞微米等超細(xì)顆粒具備識別能力
杰出的分辨能力
Topsizer Plus 能夠精確測定樣品中顆粒分布的微小變化,準(zhǔn)確反映樣品的實(shí)際粒度分布, 能充分滿足 技術(shù)研究和質(zhì)量控制的需要。 圖中的混合物樣品為 5.1um/14um/37.8um 標(biāo)樣按比例配置。
良好的重復(fù)性
Topsizer Plus 采用全自動的激光校正系統(tǒng)、自動對中系統(tǒng),從而確保了激光角度校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度,避免 了光路的飄移, 確保測試的重復(fù)性誤差小于 0.5%(標(biāo)準(zhǔn)粒子 D50)。
取樣/次 | D10/μm | D50/μm | D90/μm |
1 | 3.848 | 4.995 | 6.322 |
2 | 3.845 | 4.995 | 6.328 |
3 | 3.834 | 4.986 | 6.319 |
Average | 3.842 | 4.992 | 6.323 |
SD | 0.007 | 0.005 | 0.005 |
RSD (%) | 0.19 | 0.09 | 0.08 |
良好的再現(xiàn)性
不同主機(jī)或不同進(jìn)樣器之間具有良好的再現(xiàn)性。
快速的測試速度
Topsizer Plus 優(yōu)秀快速的分散系統(tǒng)為儀器的快速測試提供了良好前提, 使常規(guī)的測試能在 10 秒內(nèi)快 速完成,
大幅提升了測試的效率,更好的滿足了用戶的需求。
超高靈敏度
多達(dá) 103 個(gè)光電探測通道,由雙光源及前向、側(cè)向、大角度、后向光電探測器組成三維立體無盲區(qū) 檢測系統(tǒng),
探測角度 140 度。每次測試之前,軟件自動檢測信噪度,使儀器對大小顆粒的微小 變化有著超高的靈敏度。
適應(yīng)性
可選具有分散能力分散系統(tǒng),即使對于超大密度的金屬粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而 不沉淀,
從而滿足各種不同密度的顆粒粒度測試的需要。
七、技術(shù)指標(biāo)
1.測量范圍:0.01-3600μm(濕法, 取決于樣品)
2.測量原理:全量程米氏散射理論
3.重復(fù)性誤差: ≤0.5%(標(biāo)樣 D50 偏差)
4.準(zhǔn)確性誤差: ≤±0.6%(標(biāo)樣 D50 偏差)
5.測量速度:常規(guī)測量 10 秒內(nèi)完成
6.進(jìn)樣方式:
濕法自動化測試*,進(jìn)樣器采用帶進(jìn)口電機(jī)的大功率精密離心泵,攪拌速度可達(dá) 4000 轉(zhuǎn)/分鐘,
內(nèi)置超聲, 均為無級連續(xù)可調(diào)(*配 SCF- 105B 時(shí));
7.光路系統(tǒng):
雙光源設(shè)計(jì),采用進(jìn)口氦-氖激光器,波長 0.6328 微米;并有半導(dǎo)體藍(lán)光光源, 波長 0.466 微米, 極大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力;
激光功率始終穩(wěn)定, 功率波動小于 0.5%;
儀器設(shè)計(jì)符合國際激光安全規(guī)范,具備激光束自動防護(hù)功能;
采用一體式高精度全鋁合金光學(xué)平臺,長期穩(wěn)固可靠,探測器自動對中;
單鏡頭設(shè)計(jì),采用透鏡后傅立葉變換結(jié)構(gòu);
光路系統(tǒng)全封閉,有效解決粉塵污染問題。
8.檢測器:
探測通道數(shù) 103 個(gè),由前向、側(cè)向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統(tǒng), 探 測角 140 度,最小探測角 0.016 度,無盲區(qū);
采樣電路掃描頻率: 10kHz ,8 通道。
9.軟件功能:
豐富的自定義報(bào)表功能, 方便用戶靈活的獲取數(shù)據(jù)和定義報(bào)表樣式;
軟件設(shè)計(jì)模塊化,儀器狀態(tài)可視化, 操作界面人性化;
具備 SOP 標(biāo)準(zhǔn)操作流程功能;
多種數(shù)據(jù)分析模型, 滿足不同特性樣品的測試需要;
有導(dǎo)航功能的清晰、明了的流程界面;
具備人工智能, 儀器具備自檢功能, 自動識別進(jìn)樣系統(tǒng),自動判斷和干預(yù)儀器對中; 每次測量前能自動測量電背景, 有效消除電噪聲對測試結(jié)果的影響;
多種方式的測量數(shù)據(jù)導(dǎo)出,方便數(shù)據(jù)交流;
完善、開放的樣品特性參數(shù)數(shù)據(jù)庫, 具有常用樣品折射率和吸收率參數(shù);
體積分布、表面積分布、長度分布和數(shù)量分布之間可以相互轉(zhuǎn)換。
提供符合 GMP 附件《計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)》要求的軟件解決方案,具備用戶分級、權(quán)限管理、數(shù)據(jù)完整性及可追溯功能。
10.外觀尺寸:
主機(jī): 1330×266×380 mm
循環(huán)進(jìn)樣器: 210×260×345mm(SCF- 105B)
以前產(chǎn)品 圖片23