CX40M系列正置金相顯微鏡提供的圖像質量和穩固可靠的機械結構;操作簡便,附件齊全,廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地質礦物分析、精密工程測量等領域。
正置金相顯微鏡性能特點
■ 光學系統:無限遠色差校正光學系統(CSIS),像質更好,分辯率更高,觀察更舒適
■ 目鏡及物鏡:高眼點、超寬視野平場目鏡,PL10X/22,視場數達到22mm,提供更加寬闊平坦的觀察空間,并可加裝用于測量的各類測微尺,無限遠平場消色差超長工作距專業金相物鏡,無蓋玻片調計
■ 觀察筒:鉸鏈式雙目/三目/數碼一體化觀察筒,視度可調節,30°傾斜,可進行攝影攝像,對觀察圖像進行采集和保存,配置電腦和專業軟件實現圖像分板
■ 調焦機構:低手位粗微調同軸調焦機構,粗調行程:28mm,微調精度:0.002mm,帶有平臺位置上下調節機構,樣品高度可達:50mm(反射)、30mm(透反射),帶有粗調松緊調節裝置和隨機限位裝置
■ 照明系統:反射:反射照明器,帶視場光欄和也徑光欄,帶斜照明裝置(可以在觀察細微組織結構時產生浮雕立體的特殊觀察效果),自適應90V-240V寬電壓,單顆3W LED高亮度冷光源
■ 透射:90V-240V寬電壓,6V30W進口鹵素燈,有效保護和延長鹵素燈泡的使用壽命
正置金相顯微鏡技術參數:
正置金相顯微鏡性能特點
■ 光學系統:無限遠色差校正光學系統(CSIS),像質更好,分辯率更高,觀察更舒適
■ 目鏡及物鏡:高眼點、超寬視野平場目鏡,PL10X/22,視場數達到22mm,提供更加寬闊平坦的觀察空間,并可加裝用于測量的各類測微尺,無限遠平場消色差超長工作距專業金相物鏡,無蓋玻片調計
■ 觀察筒:鉸鏈式雙目/三目/數碼一體化觀察筒,視度可調節,30°傾斜,可進行攝影攝像,對觀察圖像進行采集和保存,配置電腦和專業軟件實現圖像分板
■ 調焦機構:低手位粗微調同軸調焦機構,粗調行程:28mm,微調精度:0.002mm,帶有平臺位置上下調節機構,樣品高度可達:50mm(反射)、30mm(透反射),帶有粗調松緊調節裝置和隨機限位裝置
■ 照明系統:反射:反射照明器,帶視場光欄和也徑光欄,帶斜照明裝置(可以在觀察細微組織結構時產生浮雕立體的特殊觀察效果),自適應90V-240V寬電壓,單顆3W LED高亮度冷光源
■ 透射:90V-240V寬電壓,6V30W進口鹵素燈,有效保護和延長鹵素燈泡的使用壽命
正置金相顯微鏡技術參數:
型 號 | CX40M |
光學系統 | 無限遠色差校正光學系統 |
觀 察 筒 | 鉸鏈式雙目/三目,30°傾斜,瞳距調節范圍:54-76mm;分光比:雙目99%,雙目/三目80%/20% |
目 鏡 | 標配:高眼點、超寬視野平場目鏡,PL10X/22,視場數22mm |
轉 換 器 | 內定位內傾式五孔轉換器 |
物 鏡 | 無限遠長工作距平場消色差金相物鏡5X LMPL5X /0.15 WD10.8mm |
無限遠長工作距平場消色差金相物鏡10X LMPL10X/0.30 WD10mm | |
無限遠長工作距平場消色差金相物鏡20X LMPL20X/0.45 WD4mm | |
無限遠長工作距平場半復消色差金相物鏡50X LMPLFL50X/0.55 WD7.8mm | |
調焦機構 | 低手位粗調同軸調焦機構,粗調行程:28mm,微調精度:0.002mm |
帶有平臺位置上下調節機構,樣品高度可達:50mm(反射) | |
帶有粗調松緊調節裝置和隨機限位裝置 | |
載 物 臺 | 雙層機械載物臺,低手位同軸調節,尺寸:175X145mm,行程76X42mm |
反射照明系統 | 反射照明器(帶視場光欄和也徑光欄,帶斜照明裝置),自適應寬電壓90-240V,單顆3W LED照明 |
偏光附件 | 起偏鏡插板、固定式檢偏鏡插板,可360°旋轉式檢偏鏡插板 |
CTV接口 | 1X(標配)、1/2X(選配) |
附 件 | 載物臺板(玻璃、金屬),干涉濾色片(藍、綠、紅、白),壓平機 |