美國Megger 雙接地微歐儀表
專門設(shè)計(jì)用于測量斷路器、隔離開關(guān)、母線接頭和其他此類設(shè)備中的接觸電阻
使用獲得的DualGround™技術(shù)進(jìn)行更安全的測試,以測試兩側(cè)接地的斷路器
全自動測試 - 微處理器控制
寬測量范圍和測試電流
大功率和輕量級
正在運(yùn)行:
環(huán)境:-20Cto+50C(-4Fto+122F)
溫度:-40Cto+70C(-40Fto+158F)
存儲和運(yùn)輸濕度:5%-95%相對濕度,非冷凝
尺寸:410x330x175mm(16.1英寸x136.9)
重量:73千克(16.1磅)
液晶顯示器:LCD
可用語言: 英語、德語、法語、西班牙語、斯文斯卡語
打印機(jī): 熱敏紙卷
熱敏打印機(jī): 寬度57 mm。直徑32 mm
輸出
DC+/COM
范圍
5-200 A DC(1 A步進(jìn))
輸出電壓:
5.25Vat200A 80
at0-50攝氏度(+32英尺+122華氏度)
紋波
mVpp28.3
負(fù)載能力
不斷的: 200A
輸出300/A
分路輸出:
來自200A±1%時(shí)的內(nèi)部分流器60mV
輸入靈敏度
可調(diào)0.1-20 mV/A
輸入阻抗
>1 MQ
在25攝氏度的環(huán)境溫度下
美國Megger 雙接地微歐儀表
專門設(shè)計(jì)用于測量斷路器、隔離開關(guān)、母線接頭和其他此類設(shè)備中的接觸電阻
使用獲得的DualGround™技術(shù)進(jìn)行更安全的測試,以測試兩側(cè)接地的斷路器
全自動測試 - 微處理器控制
寬測量范圍和測試電流
大功率和輕量級
MJ?LNER 系列設(shè)計(jì)用于測量斷路器觸點(diǎn)、母線接頭、母線中的觸點(diǎn)元件和其他高電流鏈路的電阻。該產(chǎn)品在設(shè)計(jì)時(shí)考慮了安全性,易用性和多功能性。它可以在任何地方使用,以高精度測量低電阻值。它對母線、斷路器、保險(xiǎn)絲等進(jìn)行真正的直流無紋波電流測試。
正在運(yùn)行:
環(huán)境:-20Cto+50C(-4Fto+122F)
溫度:-40Cto+70C(-40Fto+158F)
存儲和運(yùn)輸濕度:5%-95%相對濕度,非冷凝
尺寸:410x330x175mm(16.1英寸x136.9)
重量:73千克(16.1磅)
液晶顯示器:LCD
可用語言: 英語、德語、法語、西班牙語、斯文斯卡語
打印機(jī): 熱敏紙卷
熱敏打印機(jī): 寬度57 mm。直徑32 mm
輸出
DC+/COM
范圍
5-200 A DC(1 A步進(jìn))
輸出電壓:
5.25Vat200A 80
at0-50攝氏度(+32英尺+122華氏度)
紋波
mVpp28.3
負(fù)載能力
不斷的: 200A
輸出300/A
分路輸出:
來自200A±1%時(shí)的內(nèi)部分流器60mV
輸入靈敏度
可調(diào)0.1-20 mV/A
輸入阻抗
>1 MQ
在25攝氏度的環(huán)境溫度下