核心優(yōu)勢
長久以來，X射線吸收精細結構譜(XAFS)只能在各個同步輻射光源上測試。由于光源機時有限，無法滿足眾多科研工作者的測試需求。而近些年，XAFS數(shù)據(jù)已成為了期刊的“標配”，致使越來越多課題組需要XAFS測試。秉持著讓XAFS走進每個實驗室的理念，高能物理研究所和中國科學技術大學聯(lián)合推出了全新的X射線吸收精細結構譜儀(RapidXAFS)。
RapidXAFS HEX射線吸收譜儀產(chǎn)品優(yōu)勢：
多功能: | 提供科研級高質量XAFS圖譜 |
高性能: | 1小時內(nèi)完成1%含量樣品測試 |
能量范圍: | 4.5-15 keV，可擴展至20 keV |
高光通量: | >2,000,000 photons/sec@7~9 KeV |
測試元素: | 在實現(xiàn)3d,5d，稀土元素過渡金屬 XAFS 測試 |
簡單易用: | 只需半天培訓即可上機操作 |
自主可控: | 90%部件自主可控，無政策風險 |
低維護成本: | 無需專人維護、操作、管理等 |
RapidXAFS具有如下特點:
光通量產(chǎn)品
光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV，采譜效率數(shù)倍于其他產(chǎn)品；獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質量
優(yōu)異的穩(wěn)定性
光源單色光強度穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%，重復采集能量漂移<50 mev="">
1%探測極限
高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和較好的光源穩(wěn)定性確保所測元素含量>1%時依舊獲得高質量EXAFS數(shù)據(jù)
儀器原理
X射線吸收精細結構(X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。
RapidXAFS HEX射線吸收譜儀主要有以下優(yōu)點：
1.不依賴于長程有序結構，可用于非晶態(tài)材料的研究；
2.不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；
3.對樣品無破壞，在大氣環(huán)境下測試，可進行原位測試；
4.不受樣品狀態(tài)影響，可測量固體(晶體、粉末)，液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等；
5.能獲得配位原子種類、配位數(shù)及原子間距等結構參數(shù)，原子間距精確度可達0.01A。
實驗室單色儀XES測試幾何結構 |
實驗室單色儀XAFS測試幾何結構 |
Mn數(shù)據(jù)，Mn K-edge XAFS數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)與同步輻射光源一致
Fe樣品Kβ發(fā)射譜數(shù)據(jù)：core to core XES 和 valence to core XES
XAFS譜主要包括兩部分:X射線吸收近邊結構(XANES)和擴展X射線吸收精細結構(EXAFS)。EXAFS的能量范圍大概在吸收邊后50 eV到1000 eV，來源于X射線激發(fā)出來的內(nèi)層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應的結果。XANES包含了吸收邊前約10 eV至吸收邊后約50 eV的范圍，其主要來源于X射線激發(fā)出的內(nèi)殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應。
測試數(shù)據(jù)
Foil EXAFS數(shù)據(jù)
低濃度實際樣品數(shù)據(jù)(0.5%)
可測元素：綠色部分可測K邊，黃色部分可測L邊
應用領域
應用：
工業(yè)催化
儲能材料
納米材料
環(huán)境毒理
也質分析
重元素分析
