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HAST高加速壽命試驗機Burn-in Chamber
Burn-in Chamber試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的密封性和老化性能。
HAST高加速壽命試驗機Burn-in Chamber
HAST高加速壽命試驗Burn-in Chamber的目的是提高環境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。
Burn-in Chamber稱為超加速壽命試驗機,是用于調查分析何時出現電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設備，其目的是提高環境應力與工作應力、加快試驗過程縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業。
聚焦超低溫，低溫，環境模擬，可靠性輔助測試解決方案
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多項技術，細分領域獨角獸
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專業：多名工程師與熱流儀Temperature Cycling System相伴10多年。
維修：原廠標準服務。
料件：原廠品牌料件。
保障：提供交換式維修。
信息：設備檔案更新與備份，做客戶設備的管家。
