開放式TEM橫電波小室TBTC

概述

     EMC電磁兼容輻射騷擾測試或抗擾度測試通常在電磁屏蔽室中進行，使用天線接收輻射信號。由于帶寬限制，需要多個天線才能覆蓋整個頻率范圍。此外，屏蔽暗室需要很大的空間場地，并且用于標準一致性測試的設備成本很高。
    中小型企業(yè)的工程師通常必須依靠工作經驗和實踐方法來設計符合EMC的產品。但是，據(jù)估計，有超過50％的產品在測試中未通過。當新產品送至認證實驗室進行合規(guī)性測試時，測試失敗具有非常高的成本，不僅重新測試成本，同時項目進度和市場推廣也被推遲。
    因此需要的是一個價格合理的實驗室，可以在合規(guī)性測試之前工程師自己在實驗室中進行輻射騷擾預測試。TEM單元是用于桌面輻射騷擾測試的設備，Tekbox開發(fā)的開放式TEM單元，頻率覆蓋高達2GHz范圍，即使在更高的頻率（6GHz）下也具有可用性。
    TEM單元可與頻譜分析儀結合使用，可以對產品EMC相關的設計修改前后對產品進行驗證測試。TEM Cell裝置無法得到與經過認證的實驗室測量相同的測量結果，但是它能很好的表明產品設計是否有輻射騷擾，工程師將清楚地看到輻射情況，它所做的是產品更改是否改善了EMC性能，或者它是否保持不變。使用TEM單元消除了對產品輻射騷擾的猜測。

TEM單元是用于電子設備的輻射發(fā)射和抗擾度測試的帶狀線設備。由于其尺寸和成本，它不是認證測試實驗室的替代品，它是在實驗室中進行測量的便捷替代方法。

TEM單元由隔板，中間部分的導電條和接地的壁組成。呈現(xiàn)為幾何形狀設計的50Ω帶狀線。被測設備（DUT）放置在底壁和隔板之間。

TBTC1 / 2/3是開放式TEM單元，它沒有側壁，便于放置DUT。沒有側壁可能會拾取環(huán)境背景噪聲，但是可以通過在DUT上電之前對單元輸出信號進行測量環(huán)境噪音來將其考慮在內。

TEM Cell用于EMC一致性預測試---輻射抗擾度

抗擾度測試由射頻信號發(fā)生器輸出經射頻放大器后連接TEM單元，隔板將射頻信號輻射到DUT中，射頻信號通常是調幅（AM）或脈沖調制

與同等尺寸標準TEM單元相比，Tekbox開放式TEM單元具有更好的頻率響應。TEM單元的高階波模式的限制可用帶寬。Tekbox TEM單元的設計實現(xiàn)了垂直于所需波傳播方向的電阻。因此，高階波和共振被抑制。
   所有TEM單元都提供50Ω/25W射頻終端負載和直流塊，用于保護頻譜分析儀或接收機輸入

抗擾度完整解決方案

頻譜分析儀：可以使用普源DSA815、鼎陽SSA3021X，VSA6G2A或其他品牌，也可使用二手頻譜儀（如N9020A）

射頻功率放大器：我們Tekbox提供了一系列調制功率放大器，非常適合進行低成本的抗擾度測試。如：TBMDA1(40M-3G)、TBHDR1(30K-1.5G)等。這些放大器內置調制器以生成所需的調制格式，由頻譜分析儀的跟蹤源輸出驅動，因此可以不投資RF信號發(fā)生器.

根據(jù)選擇的調制信號放大器以及TEM單元，通過這種設置可以產生高達幾百伏的場強，更多信息請參

考調制放大器的數(shù)據(jù)表。

考慮到電場與隔板正交，要考慮DUT測試最壞的情況，請將其定位在TEM單元內，使PCB跡線垂直與隔

板方向，使其暴露場強下.

TBTC0 ,場強與射頻功率

TBTC1 ,場強與射頻功率

TBTC2 ,場強與射頻功率

TBTC3 ,場強與射頻功率

TEM Cell用于EMC一致性預測試---輻射騷擾

TEM單元與頻譜分析儀或接收機配合使用，可以對產品EMC相關整改前后對產品進行測試驗證，工程師可以清楚的看到整改效果.

技術指標