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顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1

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北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司位于首都北京,是一所擁有自主創(chuàng)新意識,不斷奮發(fā)前進(jìn)的科技公司。本公司主要進(jìn)行儀器代理、市場營銷、售后服務(wù)、設(shè)備校準(zhǔn)等。北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司憑借良好的信譽,*的技術(shù)和穩(wěn)定的產(chǎn)品質(zhì)量,為公司的發(fā)展提供動力。本公司員工都具有豐富的本行業(yè)工作經(jīng)驗、有創(chuàng)新精神、團結(jié)協(xié)作精神。
光譜儀
MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng),具備透反射測量功能
顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1 產(chǎn)品信息

MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng),具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式,形成了較小的收光面;除此之外,視野+成像+收光+物面的共軛,可使觀察和測試同時進(jìn)行。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡,滿足客戶對顯微鏡的不同需求。


成像照片


下圖為使用10X物鏡對50um小孔進(jìn)行透射率測量時的聚焦和實測畫面。

實測圖譜

系統(tǒng)參數(shù)

型號

MicroTEQ-B1

光譜儀

可根據(jù)情況自行選配

顯微反射測量模塊

兼容大部分主流顯微鏡

尺寸

220x172x68 mm

重量

2.8 kg

支持波段

400-700 nm

反射照明支持相機尺寸

1/2”

測量光斑

  1. 10 um @ 10x 物鏡 @ 100 um 光纖
  1. 50 um @ 10x 物鏡 @ 500 um 光纖




關(guān)鍵詞:光譜儀
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