高速壽命試驗裝置

采用雙層圓筒構造和*的空調方式，解決了自然對流式的結露，水滴落下的難題。
通過緩降壓，排氣，排水機構，控制避免試驗結束后壓力、溫度的急變，保證試驗結果的正確。
標準裝備有12銷針的試驗樣品信號施加端子，可以根據(jù)需要增加銷針的數(shù)量。
內置10升容量供水箱，自動供給一次試驗所需的加濕水。
箱門采用按鈕式，試驗中自動上鎖，安全可靠。
具備萬一發(fā)生故障時也可以保護試驗樣品的試樣電源控制端子。

加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受*的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(電工委員會)所標準化。
注意事項：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應力試驗)
中華鍋爐協(xié)會壓力容器安全檢查合格